[实用新型]一种芯片切痕检验台

权利要求书

1.一种芯片切痕检验台，包括机架（1）、芯片检验设备（11），其特征在于：所述机架（1）的上端连接有传输带（3），所述机架（1）的上端两侧分别通过支架（4）连接有检验台本体（5），所述检验台本体（5）的左侧连接有弧形支撑板（6），所述检验台本体（5）的上端右侧还设有滑道（12），所述滑道（12）的下端位于检验台本体（5）的下端连接有第一滑板（13），所述第一滑板（13）的上端等距连接有若干组第一滑轮（14），所述第一滑板（13）的右端向下倾斜设置，所述检验台本体（5）的右端上侧连接有第二滑板（7），所述第二滑板（7）的上端等距安装有若干组第二滑轮（8），所述第二滑板（7）的右侧下端连接有第二软板（9），所述机架（1）的上端一侧还连接有侧支架（10），所述侧支架（10）呈L型设置，所述侧支架（10）的下端连接有芯片检验设备（11）。

2.根据权利要求1所述的一种芯片切痕检验台，其特征在于：所述滑道（12）呈倾斜设置，所述机架（1）的下端四角分别连接有支撑腿（2）。

3.根据权利要求1所述的一种芯片切痕检验台，其特征在于：所述第一滑板（13）的右端连接有第一软板（15），所述第一软板（15）为橡胶软板。

4.根据权利要求1所述的一种芯片切痕检验台，其特征在于：所述弧形支撑板（6）、第一滑板（13）、第二滑板（7）均位于传输带（3）的上方。

5.根据权利要求1所述的一种芯片切痕检验台，其特征在于：所述弧形支撑板（6）的下端靠近传输带（3）的上端面。

6.根据权利要求1所述的一种芯片切痕检验台，其特征在于：所述芯片检验设备（11）位于检验台本体（5）的上方中部。