[实用新型]一种芯片切痕检验台

说明书

本实用新型公开了一种芯片切痕检验台，所述机架的上端连接有传输带，所述机架的上端两侧分别通过支架连接有检验台本体，所述检验台本体的左侧连接有弧形支撑板，所述检验台本体的上端右侧还设有滑道，所述滑道的下端位于检验台本体的下端连接有第一滑板，所述第一滑板的上端等距连接有若干组第一滑轮，所述第一滑板的右端向下倾斜设置；本实用新型可将检验完成后的合格的产品和不合格的产品进行分类存放，通过在检验台本体上设有滑道的设置，便于快速将芯片放入滑道中，同时还设有第二滑板、第二滑轮、第二软板，可将检验后的不合格芯片阻隔在传输带上检验台本体的下端，检验合格的芯片则通过第二滑板进行输送，便于检验时使用。

技术领域

本实用新型涉及芯片切痕检验台技术领域，具体为一种芯片切痕检验台。

背景技术

随着国内LED行业的不断发展，芯片是非常重要的一个结构部件，芯片在加工完成后通常需要切割成为不同大小的体积来进行分类使用，现有的芯片加工工艺子啊切割完成后需要对芯片进行检验，以保证成品的合格，而现有的检验台结构单一，不便于对芯片检验时使用。

为此，我们推出一种芯片切痕检验台。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片切痕检验台，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片切痕检验台，包括机架、芯片检验设备，所述机架的上端连接有传输带，所述机架的上端两侧分别通过支架连接有检验台本体，所述检验台本体的左侧连接有弧形支撑板，所述检验台本体的上端右侧还设有滑道，所述滑道的下端位于检验台本体的下端连接有第一滑板，所述第一滑板的上端等距连接有若干组第一滑轮，所述第一滑板的右端向下倾斜设置，所述检验台本体的右端上侧连接有第二滑板，所述第二滑板的上端等距安装有若干组第二滑轮，所述第二滑板的右侧下端连接有第二软板，所述机架的上端一侧还连接有侧支架，所述侧支架呈L型设置，所述侧支架的下端连接有芯片检验设备。

作为本技术方案的进一步优化，所述滑道呈倾斜设置，所述机架的下端四角分别连接有支撑腿。

作为本技术方案的进一步优化，所述第一滑板的右端连接有第一软板，所述第一软板为橡胶软板。

作为本技术方案的进一步优化，所述弧形支撑板、第一滑板、第二滑板均位于传输带的上方。

作为本技术方案的进一步优化，所述弧形支撑板的下端靠近传输带的上端面。

作为本技术方案的进一步优化，所述芯片检验设备位于检验台本体的上方中部。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型可将检验完成后的合格的产品和不合格的产品进行分类存放，通过在检验台本体上设有滑道的设置，便于快速将芯片放入滑道中，并且滑道呈倾斜设置，检验完成的不合格芯片通过滑道向下进入第一滑板，从上端的第一滑轮中被滚动向下进入第一软板上再落到传输带上，当芯片滑落到第一软板上时，第一软板受重力而一端向下与传输带接触，使得上端的芯片缓缓落在传输带上，进行检验后的输送，同时还设有第二滑板、第二滑轮、第二软板，可将检验后的不合格芯片阻隔在传输带上检验台本体的下端，检验合格的芯片则通过第二滑板进行输送，然后在第二滑轮上向下滑落在第二软板上，再继续从传输带上被输送，便于检验时使用。

附图说明

图1为本实用新型侧视结构示意图；

图2为本实用新型俯视结构示意图；

图3为本实用新型第二滑板结构示意图；

图4为本实用新型第一滑板结构示意图。

图中：1、机架；2、支撑腿；3、传输带；4、支架；5、检验台本体；6、弧形支撑板；7、第二滑板；8、第二滑轮；9、第二软板；10、侧支架；11、芯片检验设备；12、滑道；13、第一滑板；14、第一滑轮；15、第一软板。