[实用新型]一种微波芯片检测装置有效

专利信息
申请号: 201922274503.9 申请日: 2019-12-17
公开(公告)号: CN212207573U 公开(公告)日: 2020-12-22
发明(设计)人: 邱少军;于孟国;王晶;王惠;赵娜;杨盼 申请(专利权)人: 北京振兴计量测试研究所
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04;G05B19/042
代理公司: 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 代理人: 李明里
地址: 100074 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 微波 芯片 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种微波芯片检测装置,其特征在于,包括测试装具(2)、控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5);

所述测试装具(2),用于无损安装待测微波芯片;

所述控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5)分别通过所述测试装具(2)与所述待测微波芯片的控制端口、微波输入端口和微波输出端口连接;

所述输入端口(4)外接微波信号源(9),用于为所述待测微波芯片提供信号源;

所述输出端口(5)外接频谱分析仪(10),用于检测所述待测微波芯片的输出信号;

所述控制单元(3),用于控制所述待测微波芯片输出不同的参数信号。

2.根据权利要求1所述的微波芯片检测装置,其特征在于,所述测试装具(2)包括测试插座和上盖板,所述测试插座包括与所述待测芯片的焊盘一一对应的弹簧针;所述待测芯片按照正确的方向放入测试插座中时,所述上盖板与所述测试插座盖合。

3.根据权利要求1所述的微波芯片检测装置,其特征在于,所述控制单元(3)包括控制组件(31)和开关组件(32);

所述控制组件(31)的输入端连接开关组件(32),输出端通过所述测试装具(2)连接所述待测微波芯片的控制端口;所述控制组件(31)基于开关组件(32)中不同开关的通断,控制所述待测微波芯片输出对应不同开关的参数信号。

4.根据权利要求3所述的微波芯片检测装置,其特征在于,所述开关组件(32)包括4个与所述控制组件(31)连接的独立的微动开关。

5.根据权利要求3所述的微波芯片检测装置,其特征在于,控制单元(3)还包括GPIB通讯接口(33)和/或RS232通讯接口(34);所述GPIB通讯接口(33)和/或RS232通讯接口(34),用于将所述控制组件(31)与电脑(7)进行连接。

6.根据权利要求5所述的微波芯片检测装置,其特征在于,所述的GPIB通讯接口(33)通过NI的GPIB转接卡与电脑(7)连接;所述的RS232通讯接口(34)通过USB转RS232转接卡与电脑(7)连接。

7.根据权利要求1所述的微波芯片检测装置,其特征在于,还包括供电单元(6),所述供电单元(6)包括供电电路和供电接口;

所述供电接口将外接的直流稳压电源(8)连接到供电电路;

所述供电电路包括开关电源电路和线性电源电路,分别给控制单元(3)和待测芯片供电。

8.根据权利要求7所述的微波芯片检测装置,其特征在于,还包括基板(1),所述测试装具(2)、控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5)和供电单元(6)通过焊接的方式固定于基板(1)上。

9.根据权利要求1-8任一项所述的微波芯片检测装置,其特征在于,所述待测微波芯片为锁相频率合成器。

10.根据权利要求9所述的微波芯片检测装置,其特征在于,所述测试装具(2)包括型号24QN50S14040-C的专用测试插座。

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