[实用新型]一种微波芯片检测装置

说明书

本实用新型涉及一种微波芯片检测装置，属于芯片测试技术领域，解决微波芯片的无损检测问题，装置包括测试装具(2)、控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5)；测试装具(2)，用于无损安装待测微波芯片；控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5)分别通过测试装具(2)与待测微波芯片的控制端口、微波输入端口和微波输出端口连接；输入端口(4)外接微波信号源(9)，用于为待测微波芯片提供信号源；输出端口(5)外接频谱分析仪(10)，用于检测待测微波芯片的输出信号；控制单元(3)，用于产生控制信号，控制待测微波芯片输出信号的参数。本实用新型制造成本低、结构简单；测试过程简单、便捷，适用于批量测试。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种微波芯片检测装置。

背景技术

目前的微波器件功能复杂、封装小、引脚多，在投入使用前对其功能、性能进行测试，可以充分的剔除早期失效品，为器件的正式投入使用减小隐患。

现有的用于微波器件检测的装置，存在以下局限性：

(1)只能对管脚简单的器件进行测试，复杂管脚尤其需要外部控制的芯片，测试难度较大；

(2)只能单频点测试，或通过控制单元重新配置更改频率，测试流程复杂、测试频点受到下载程序繁琐等因素限制，测试项目和参数单一，无法覆盖芯片的全部性能；

(3)不能够实现全流程自动测试，并自动保存测试结果；

(4)高频信号传输容易受到寄生参数干扰，阻抗不匹配导致测试结果失真；

(5)有源射频芯片容易受到开关电源干扰，导致输出信号被调制；

(6)测试结果一致性差，尤其是频率较高时。

实用新型内容

鉴于上述的分析，本实用新型旨在提供一种微波芯片检测装置，解决微波芯片的无损检测问题。

本实用新型的目的主要是通过以下技术方案实现的：

本实用新型公开了一种微波芯片检测装置，包括测试装具(2)、控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5)；

所述测试装具(2)，用于无损安装待测微波芯片；

所述控制单元(3)、输入端口(4)、输出端口(5)分别通过所述测试装具(2)与所述待测微波芯片的控制端口、微波输入端口和微波输出端口连接；

所述输入端口(4)外接微波信号源(9)，用于为所述待测微波芯片提供信号源；

所述输出端口(5)外接频谱分析仪(10)，用于检测所述待测微波芯片的输出信号；

所述控制单元(3)，用于控制所述待测微波芯片输出不同的参数信号。

进一步地，所述测试装具(2)包括测试插座和上盖板，所述测试插座包括与所述待测芯片的焊盘一一对应的弹簧针；所述待测芯片按照正确的方向放入测试插座中时，所述上盖板与所述测试插座盖合。

进一步地，所述控制单元(3)包括控制组件(31)和开关组件(32)；

所述控制组件(31)的输入端连接开关组件(32)，输出端通过所述测试装具(2)连接所述待测微波芯片的控制端口；所述控制芯片基于开关组件中不同开关的通断，控制所述待测微波芯片输出对应不同开关的参数信号。

进一步地，所述开关组件(32)包括4个与所述控制组件(31)连接的独立的微动开关。

进一步地，控制单元(3)还包括GPIB通讯接口(33)和/或RS232通讯接口(34)；所述GPIB通讯接口(33)和/或RS232通讯接口(34)，用于将所述控制组件(31)与电脑(7)进行连接。