[实用新型]一种测试装置及相关复位电路

权利要求书

1.一种测试装置，包括测试机台和与所述测试机台分别供电的测试治具，以测试待测模组，所述测试机台以供电使能信号作为所述测试治具的驱动信号，其特征在于，所述测试装置还包括：

复位电路，与所述测试机台和所述测试治具相连接，从所述测试机台获取所述供电使能信号，以及在所述测试机台断电时根据所述供电使能信号产生复位信号至所述测试治具，从而对所述测试治具进行复位。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述复位电路包括：

依次串联连接在电压源与地之间的第一电阻和第二电阻，所述第一电阻和所述第二电阻的中间节点为输出所述复位信号的复位管脚；

控制模块，根据所述供电使能信号调节所述复位管脚的电压以产生所述复位信号。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述控制模块包括：

依次串联连接在所述复位管脚与地之间的第一晶体管和电容，所述第一晶体管的栅极接收所述供电使能信号；

连接在所述第一晶体管和所述电容的中间节点与地之间的第二晶体管，所述第二晶体管的栅极接收所述供电使能信号；其中，

所述第一晶体管和所述第二晶体管根据所述供电使能信号分时导通。

4.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，

所述第一晶体管为NMOS管，所述第二晶体管为PMOS管。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，

所述供电使能信号在所述测试机台为上电状态时为低电平，在所述测试机台为断电状态时为高电平。

6.根据权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述控制模块还包括：

第三电阻，所述第一晶体管和所述第二晶体管的栅极通过所述第三电阻连接至地。

7.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，

所述第二电阻的阻值大于所述第一电阻的阻值。

8.一种复位电路，其特征在于，包括：

依次串联连接在电压源与地之间的第一电阻和第二电阻，所述第一电阻和所述第二电阻的中间节点为复位信号输出管脚；

依次串联连接在所述输出管脚和地之间的第一晶体管和电容；

连接在所述第一晶体管和所述电容的中间节点与地之间的第二晶体管；其中，

所述第一晶体管和所述第二晶体管的栅极接收控制信号，所述第一晶体管和所述第二晶体管根据所述控制信号分时导通。

9.根据权利要求8所述的复位电路，其特征在于，还包括：

第三电阻，所述第一晶体管和所述第二晶体管的栅极通过所述第三电阻连接至地，所述控制信号直接连接至所述第一晶体管和所述第二晶体管的栅极。

10.根据权利要求8所述的复位电路，其特征在于，

所述第二电阻的阻值大于所述第一电阻的阻值。