[实用新型]一种测试装置及相关复位电路

说明书

公开了一种测试装置及相关复位电路，测试装置包括测试治具、测试机台以及复位电路，复位电路在测试机台从上电状态变为断电状态时产生一个复位脉冲至测试治具，使测试治具上电重启；还公开了一种复位电路，包括根据控制信号分时导通的第一晶体管、第二晶体管、电容以及依次串联连接在电压源与地之间的第一电阻和第二电阻，电容上极板在第二晶体管导通时连接至地为低电平，在第一晶体管导通时连接至第一电阻和第二电阻的中间节点进行充电，从而在该中间节点产生一个复位脉冲信号。本实用新型在机台断电时由复位电路产生复位脉冲至治具，使治具端不用断电即可实现上电重启，可增加治具稳定性、减少机台卡机情况、提高生产效率。

技术领域

本实用新型涉及电子设备技术领域，特别涉及一种测试装置及相关复位电路。

背景技术

随着工厂对测试治具需求量的增加，测试治具的稳定性及可靠性的要求也越来越高，不仅硬件设计要满足规格，同时软件设计也要满足生产需要。一般工厂作业采用测试机台操作控制测试治具来实现自动控制，比如Chorma点灯测试机台等。但是由于产品的量比较大，导致测试治具长时间处于工作状态，难免不会出现程序跑飞的情况，此时这会导致测试机台出现报错或卡机的情况，而操作人员需要去断电重启。如果次数过多，不仅影响人员的耐心，同时也影响生产效率。

实用新型内容

鉴于上述问题，本实用新型的目的在于提供一种测试装置及相关复位电路。

根据本实用新型的一方面，提供一种测试装置，包括测试机台和与所述测试机台分别供电的测试治具，以测试待测模组，所述测试机台以供电使能信号作为所述测试治具的驱动信号，其特征在于，所述测试装置还包括：

复位电路，与所述测试机台和所述测试治具相连接，从所述测试机台获取所述供电使能信号，以及在所述测试机台断电时根据所述供电使能信号产生复位信号至所述测试治具，从而对所述测试治具进行复位。

优选地，所述复位电路包括：

依次串联连接在电压源与地之间的第一电阻和第二电阻，所述第一电阻和所述第二电阻的中间节点为输出所述复位信号的复位管脚；

控制模块，根据所述供电使能信号调节所述复位管脚的电压以产生所述复位信号。

优选地，所述控制模块包括：

依次串联连接在所述复位管脚与地之间的第一晶体管和电容，所述第一晶体管的栅极接收所述供电使能信号；

连接在所诉第一晶体管和所述电容的中间节点与地之间的第二晶体管，所述第二晶体管的栅极接收所述供电使能信号；其中，

所述第一晶体管和所述第二晶体管根据所述供电使能信号分时导通。

优选地，所述第一晶体管为NMOS管，所述第二晶体管为PMOS管。

优选地，所述供电使能信号在所述测试机台为上电状态时为低电平，在所述测试机台为断电状态时为高电平。

优选地，所述控制模块还包括：

第三电阻，所述第一晶体管和所述第二晶体管的栅极通过所述第三电阻连接至地。

优选地，所述第二电阻的阻值大于所述第一电阻的阻值。

根据本实用新型的另一方面，提供一种复位电路，其特征在于，包括：

依次串联连接在电压源与地之间的第一电阻和第二电阻，所述第一电阻和所述第二电阻的中间节点为复位信号输出管脚；

依次串联连接在所述输出管脚和地之间的第一晶体管和电容；

连接在所述第一晶体管和所述电容的中间节点与地之间的第二晶体管；其中，