[实用新型]一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置

权利要求书

1.一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置，包括高温反偏测试机机体(1)、高温柜(2)、柜门(3)、电子元件测试板(4)、测试腔(5)、测试基座(6)、密封板(7)、放置板(8)、滑轨(9)、放置槽(10)、限位板(11)、限位孔(12)和金属触片(13)，其特征在于：所述高温反偏测试机机体(1)一侧的顶部固定安装有高温柜(2)，所述高温柜(2)的一侧铰接有柜门(3)，所述高温柜(2)的内部开设有三个测试腔(5)，三个所述测试腔(5)的内部抽拉连接有电子元件测试板(4)，所述电子元件测试板(4)由放置板(8)和密封板(7)组成，所述放置板(8)的一端固定连接有密封板(7)，三个所述放置板(8)的顶部均开设有若干个放置槽(10)，三个所述测试腔(5)的底部均固定安装有若干个测试基座(6)，且若干个所述放置槽(10)分别与若干个测试基座(6)一一对应。

2.根据权利要求1所述的一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置，其特征在于：所述三个所述密封板(7)远离放置板(8)的一侧开设有凹槽，三个所述凹槽的内部均固定连接有把手。

3.根据权利要求1所述的一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置，其特征在于：所述放置板(8)的两侧均固定连接有滑轨(9)，两个所述滑轨(9)分别与对应测试腔(5)两侧开设的滑槽滑动连接。

4.根据权利要求1所述的一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置，其特征在于：所述若干个所述放置槽(10)的底部均固定连接有限位板(11)，所述限位板(11)的顶部均开设有三个限位孔(12)。

5.根据权利要求1所述的一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置，其特征在于：所述若干个所述测试基座(6)的顶部均嵌设有三个金属触片(13)。