[实用新型]一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置

说明书

本实用新型公开了一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置，包括高温反偏测试机机体，高温反偏测试机机体一侧的顶部固定安装有高温柜，高温柜的一侧铰接有柜门，高温柜的内部开设有三个测试腔，三个测试腔的内部抽拉连接有电子元件测试板，电子元件测试板由放置板和密封板组成，放置板的一端固定连接有密封板，三个放置板的顶部均开设有若干个放置槽，本实用新型一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置，抽出和推入电子元件测试板，完成对电子元件的取放，操作方便快捷，先设定好工作的温度、电流和工作时间，电子元件在通电和高温环境下进行试验，计算不良率，分析得到电子元件寿命和性能。

技术领域

本实用新型涉及涉及电子技术领域，具体为一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置。

背景技术

随着经济的繁荣昌盛，人们生活水平的不断的提高，生产技术的发展越来越好，人们对自己时间的利用越来越苛刻，生活中，我们对于设备的要求越来越高，希望能够通过对设备的创新来提高设备的工作效率，减少工作时间，提高使用效率，使之发挥出最大的价值，随着科技的发展，便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置有了很大程度的发展，它的发展给人们在对工厂车间进行清理吸尘时带来了很大的便利，其种类和数量也正在与日俱增。目前市场上的便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置虽然种类和数量非常多，但是大多数的高温加速反偏寿命测试装置只有自动或者手动吸尘一种模式，这很大程度的限制了高温加速反偏寿命测试装置的使用范围，而且使用不够方便、灵活，且电子元件取放操作不便。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足，提供一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置，以解决上述背景技术提出的目前市场上的大多数的高温加速反偏寿命测试装置只有自动或者手动吸尘一种模式，使用不够方便、灵活，且电子元件取放操作不便的问题。

本实用新型解决其技术问题是通过以下技术方案实现的：

一种便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置，包括高温反偏测试机机体、高温柜、柜门、电子元件测试板、测试腔、测试基座、密封板、放置板、滑轨、放置槽、限位板、限位孔和金属触片，所述高温反偏测试机机体一侧的顶部固定安装有高温柜，所述高温柜的一侧铰接有柜门，所述高温柜的内部开设有三个测试腔，三个所述测试腔的内部抽拉连接有电子元件测试板，所述电子元件测试板由放置板和密封板组成，所述放置板的一端固定连接有密封板，三个所述放置板的顶部均开设有若干个放置槽，三个所述测试腔的底部均固定安装有若干个测试基座，且若干个所述放置槽分别与若干个测试基座一一对应。

而且，三个所述密封板远离放置板的一侧开设有凹槽，三个所述凹槽的内部均固定连接有把手。

而且，所述放置板的两侧均固定连接有滑轨，两个所述滑轨分别与对应测试腔两侧开设的滑槽滑动连接。

而且，若干个所述放置槽的底部均固定连接有限位板，所述限位板的顶部均开设有三个限位孔。

而且，若干个所述测试基座的顶部均嵌设有三个金属触片。

本实用新型的优点和有益效果为：

1、本实用新型的便于取放电子元件的高温加速反偏寿命测试装置，设置有电子元件测试板，抽出和推入电子元件测试板，完成对电子元件的取放，操作方便快捷，先设定好工作的温度、电流和工作时间，电子元件在通电和高温环境下进行试验，计算不良率，分析得到电子元件寿命和性能。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型高温柜的正视图；

图3为本实用新型高温柜的截面图；

图4为本实用新型放置板的俯视图；

图5为本实用新型测试基座的结构示意图；