[实用新型]一种LED芯片测试用合金针

权利要求书

1.一种LED芯片测试用合金针，包括上探针（2）和定位槽（12），其特征在于：所述上探针（2）上端安装有上端头（1），且上探针（2）下端固定安装有限位块（5），同时上探针（2）下端设置在第一针筒（3）内部，并且第一针筒（3）的内壁上固定安装有限位槽（4），上探针（2）下端与连接柱（6）固定连接，第一针筒（3）底部与第二针筒（8）固定连接，且第二针筒（8）内部安装有下探针（9），同时下探针（9）下端固定安装有下端头（10）；

所述定位槽（12）开设在第一针筒（3）的底部，且第一针筒（3）底部右侧开设有右连接孔（11），同时第一针筒（3）底部左侧开设有左连接孔（14），并且第一针筒（3）底部开设有固定孔（13）；第二针筒（8）上端固定连接有定位块（17），且第二针筒（8）左上端固定连接有左连接块（18），同时第二针筒（8）右上端固定连接有右连接块（16），左连接块（18）与右连接块（16）内部均开设有穿孔（15）。

2.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试用合金针，其特征在于：所述上端头（1）与下端头（10）的端部均固定安装有滑块（19），且上探针（2）的上端与下探针（9）的下端内部均开设有滑槽（20），同时上端头（1）与下端头（10）均通过其上的滑块（19）分别插接在上探针（2）和下探针（9）内部的滑槽（20）中。

3.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试用合金针，其特征在于：所述第一针筒（3）的内部固定连接有连接柱（6），且第一针筒（3）内部的连接柱（6）与上探针（2）底部的连接柱（6）之间通过缓冲弹簧（7）固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试用合金针，其特征在于：所述限位块（5）沿着上探针（2）的周向位置均匀设置为四组，且相邻两组限位块（5）之间的角度为90°，同时上探针（2）通过其上的限位块（5）滑接在限位槽（4）内部。

5.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试用合金针，其特征在于：所述第二针筒（8）与第一针筒（3）之间通过固定螺栓相连接，且固定螺栓穿过穿孔（15）螺接在固定孔（13）内部。

6.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试用合金针，其特征在于：所述下探针（9）在第二针筒（8）内部的固定方式与上探针（2）在第一针筒（3）内部的固定方式一致，且下探针（9）与上探针（2）均为升降结构。

7.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试用合金针，其特征在于：所述定位槽（12）与定位块（17）的尺寸相适配，且第二针筒（8）通过其上的定位块（17）插接在定位槽（12）中。

8.根据权利要求1所述的一种LED芯片测试用合金针，其特征在于：所述左连接孔（14）与右连接孔（11）之间的距离等于左连接块（18）与右连接块（16）之间的距离，且两组连接孔与两组连接块的尺寸相适配，同时第二针筒（8）通过其上的左连接块（18）与右连接块（16）分别插接在第一针筒（3）底部的左连接孔（14）与右连接孔（11）中。