[实用新型]一种IC芯片测试治具

权利要求书

1.一种IC芯片测试治具，包括芯片(1)，其特征在于：所述芯片(1)的底部设有吸附机构(2)；

所述吸附机构(2)包括底座(201)、吸盘(202)和竖板(203)；

所述底座(201)设于芯片(1)的底部，所述底座(201)的底部四角均安装有吸盘(202)，所述底座(201)的顶部固接有竖板(203)。

2.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述竖板(203)位于底座(201)的顶部中点处。

3.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述底座(201)的顶部设有第一调节机构(3)；

所述第一调节机构(3)包括圆杆(301)、横块(302)、第一弹簧(303)、竖杆(304)和滚轮(305)；

两个所述圆杆(301)固接于底座(201)的顶部，两个所述圆杆(301)的外壁均转动相连有横块(302)，两个所述圆杆(301)的外壁间隙配合有第一弹簧(303)，所述第一弹簧(303)的底部卡接于底座(201)的顶部，所述第一弹簧(303)的顶部卡接于横块(302)的底部，两个所述横块(302)的内侧固接有竖杆(304)，所述竖杆(304)的顶部通过销轴转动相连有滚轮(305)。

4.根据权利要求3所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：两个所述圆杆(301)关于竖板(203)轴对称分布。

5.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述竖板(203)的前端面设有第二调节机构(4)；

所述第二调节机构(4)包括V型块(401)和圆板(402)；

所述V型块(401)通过销轴转动相连于竖板(203)的前端面，所述V型块(401)的底部与滚轮(305)的顶部相贴合，所述V型块(401)的顶部固接有圆板(402)。

6.根据权利要求5所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述圆板(402)的顶部设有放置机构(5)；

所述放置机构(5)包括横板(501)、内腔(502)和通槽(503)；

所述横板(501)通过轴承与圆板(402)转动相连，所述横板(501)的内部加工有内腔(502)，所述内腔(502)的内壁顶部加工有通槽(503)。

7.根据权利要求6所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述内腔(502)的内壁设有固定机构(6)；

所述固定机构(6)包括滑杆(601)、第二弹簧(602)、第一滑套(603)、横杆(604)、手柄(605)、第二滑套(606)、竖块(607)和橡胶垫(608)；

所述滑杆(601)的左右两侧固接于内腔(502)的内壁左右两侧，所述滑杆(601)的外壁左右两侧均滑动相连有第一滑套(603)，两个所述第一滑套(603)的外壁与通槽(503)的内壁间隙配合，所述滑杆(601)的外壁左右两侧均间隙配合有第二弹簧(602)，所述第二弹簧(602)的外侧卡接于内腔(502)的内壁外侧，所述第二弹簧(602)的内侧卡接于第一滑套(603)的外侧，两个所述第一滑套(603)的顶部均固接有横杆(604)，两个所述横杆(604)的外壁间隙配合有第二滑套(606)，两个所述第二滑套(606)固接于横板(501)的顶部左右两侧，两个所述横杆(604)的外侧固接有手柄(605)，两个所述横杆(604)的内侧均固接有竖块(607)，两个所述竖块(607)的内侧固接有橡胶垫(608)，两个所述橡胶垫(608)的内侧与芯片(1)的外壁相接触并抵紧。

8.根据权利要求7所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述手柄(605)的表面加工有纹路。