[实用新型]一种IC芯片测试治具

说明书

本实用新型公开种IC芯片测试治具，包括芯片，所述芯片的底部设有吸附机构，所述吸附机构包括底座、吸盘和竖板，所述底座设于芯片的底部，所述底座的底部四角均安装有吸盘，所述底座的顶部固接有竖板。该IC芯片测试治具通过吸盘、底座和竖板之间的配合，使得该IC芯片测试治具可固定在外界平面上，避免了存在该IC芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，避免了存在该IC芯片测试治具无法将IC芯片进行固定，可能会造成IC芯片角度调节后，造成IC芯片掉落，使得对IC芯片的测试终止，影响工作效率，该IC芯片测试治具通过横板、圆板和V型块之间的配合，使得芯片可进行多种角度的转动调节，方便测试者对芯片进行检测。

技术领域

本实用新型涉及IC芯片技术领域，具体为一种IC芯片测试治具。

背景技术

治具是一个木工、铁工、钳工、机械、电控以及其他一些手工艺品的大类工具，主要是作为协助控制位置或动作(或两者)的一种工具。治具可以分为工艺装配类治具、项目测试类治具和线路板测试类治具三类,例如专利号为：201721674417.1，一种IC芯片测试治具，芯片样品测试时，只需调节螺纹微调器就能使观察视野内的样品图像调至清晰，不仅不需要加胶，也能避免对芯片样品的损坏，大大提高了测试效率，且能有效地提高芯片样品分析的准确性。

虽然该IC芯片测试治具可以实现对芯片的角度调节，但存在该IC芯片测试治具无法将IC芯片进行固定，可能会造成IC芯片角度调节后，造成IC 芯片掉落，使得对IC芯片的测试终止，影响工作效率的问题，且存在该IC 芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，影响测试工作的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种IC芯片测试治具，以解决上述背景技术中提出的虽然该IC芯片测试治具可以实现对芯片的角度调节，但存在该IC 芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，影响测试工作的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种IC芯片测试治具，包括芯片，所述芯片的底部设有吸附机构；

所述吸附机构包括底座、吸盘和竖板；

所述底座设于芯片的底部，所述底座的底部四角均安装有吸盘，所述底座的顶部固接有竖板。使得该IC芯片测试治具可固定在外界平面上，避免了存在该IC芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，影响测试工作。

优选的，所述竖板位于底座的顶部中点处。使得竖板对放置机构进行固定，避免放置机构无法保持平衡。

优选的，所述底座的顶部设有第一调节机构；

所述第一调节机构包括圆杆、横块、第一弹簧、竖杆和滚轮；

两个所述圆杆固接于底座的顶部，两个所述圆杆的外壁均转动相连有横块，两个所述圆杆的外壁间隙配合有第一弹簧，所述第一弹簧的底部卡接于底座的顶部，所述第一弹簧的顶部卡接于横块的底部，两个所述横块的内侧固接有竖杆，所述竖杆的顶部通过销轴转动相连有滚轮。使得芯片可进行固定，避免了存在该IC芯片测试治具无法将IC芯片进行固定，可能会造成IC 芯片角度调节后，造成IC芯片掉落，使得对IC芯片的测试终止，影响工作效率。

优选的，两个所述圆杆关于竖板轴对称分布。使得圆杆可带动竖杆在竖板的中点处进行移动。

优选的，所述竖板的前端面设有第二调节机构；

所述第二调节机构包括V型块和圆板；

所述V型块通过销轴转动相连于竖板的前端面，所述V型块的底部与滚轮的顶部相贴合，所述V型块的顶部固接有圆板。使得V型块可在滚轮的顶部进行左右转动。

优选的，所述圆板的顶部设有放置机构；

所述放置机构包括横板、内腔和通槽；