[实用新型]一种单层片式瓷介电容器测试夹具

说明书

本实用新型提供一种单层片式瓷介电容器测试夹具，包括多个上电极、多个下电极、上压板和下压板，上压板与下压板为电路板，上电极设置于上压板，下电极设置于下压板，上电极与下电极一一对应，片式电子元件夹于上电极与下电极之间,无需焊接的繁冗操作，避免了传统焊接夹具对产品造成破坏、不能重复利用、测试精确度低的问题。

技术领域

本实用新型涉及一种电力电子领域，具体涉及一种单层片式瓷介电容器测试夹具。

背景技术

单层片式瓷介电容器在生产过程中需要对产品进行低电压耐湿的测试，以保证产品的质量、环境适应性和可靠性。传统的夹具做法是将产品焊接到玻钎板上，然后进行试验。这种做法易对产品造成破坏、不能重复利用、测试精确度低等。在电容器进行低电压耐湿特性测试过程中，需要先将产品和夹具一起放入高低温交变湿热试验箱，85％的湿度环境冲击对于夹具的可靠性产生极大影响，测试不精确。85℃夹具中潮湿的环境容易使产品之间导通造成短路现象，发生测量失效，无法测试到容值。同时传统夹具不易安放电容且易损伤电容的金层电极，影响测试的可靠性及结果，所以，传统夹具存在极大的缺陷。

实用新型内容

为了解决传统测试夹具无法满足电容器低电压耐湿特性的测试要求，针对现有技术中存在的缺陷，本实用新型旨在提供一种测试效率高、检测准确度高、操作简便，不易发生短路的一种单层片式瓷介电容器测试夹具。

本实用新型通过以下技术方案实现：

一种单层片式瓷介电容器测试夹具，包括多个上电极、多个下电极、上压板和下压板，上压板与下压板为电路板，上电极设置于上压板，下电极设置于下压板，上电极与下电极一一对应，片式电子元件夹于上电极与下电极之间。

进一步的，还包括弹簧顶针，弹簧顶针与上电极固定连接，上电极通过弹簧顶针与片式电子元件接触。

进一步的，所述弹簧顶针包括顶针头、顶针座和弹簧，顶针座首部设置有与顶针头尾部相互配合的缩口防止顶针头脱出，顶针座为空心结构，弹簧设置于顶针座内，与顶针头底部相连。

进一步的，还包括锁紧机构，上压板和下压板边缘设置有与锁紧机构配合的穿孔，锁紧机构包括多个螺栓与多个螺母，螺栓穿过穿孔与螺母一一配合。

进一步的，所述穿孔沿上压板和下压板的中心对称布置。

进一步的，所述下电极设置有凹槽，凹槽形状与片式电子元件外形相适配。

进一步的，所述上压板和下压板设置有透气孔。

进一步的，所述上压板和下压板均采用耐温耐湿材质。

进一步的，所述上电极和下电极经过特殊的金属化处理，表面为硬化镀金层。

进一步的，还包括设置于上压板的电源正极接口和设置于下压板的电源负极接口，所述上电极与电源正极接口连接，负电极与电源负极接口连接，测试导线分别从电源正极接口和电源负极接口引出。

本实用新型具有如下有益效果：

1、本实用新型通过接触式的夹具，无需焊接的繁冗操作，避免了传统焊接夹具对产品造成破坏、不能重复利用、测试精确度低的问题，达到片式电子元件的无损的性能测量，大幅度减少测量操作。

2、本实用新型可以一次性对多个产品进行测试，工位可以根据需求添加。

3、锁紧机构可保证在检测过程中产品具有良好的接触性。

4、弹簧顶针起到缓冲作用可保证产品不会因锁紧机构的外力造成外部损伤。

5、下电极设置的凹槽起定位槽的作用，使产品放置进去后不易挪动。