[实用新型]器件有效
申请号: | 201922397352.6 | 申请日: | 2019-12-27 |
公开(公告)号: | CN211879377U | 公开(公告)日: | 2020-11-06 |
发明(设计)人: | L·M·C·迪迪奥 | 申请(专利权)人: | 意法半导体国际有限公司 |
主分类号: | H01L23/495 | 分类号: | H01L23/495;H01L21/48 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 郭星 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 器件 | ||
1.一种器件,其特征在于,包括:
铜引线框架;
金属层,在所述铜引线框架的至少部分上;以及
金属氧化物层,在所述金属层上。
2.根据权利要求1所述的器件,其特征在于,所述引线框架的所述部分包括引线。
3.根据权利要求2所述的器件,其特征在于,还包括:锡层,在所述金属氧化物层的至少第一部分上。
4.根据权利要求3所述的器件,其特征在于,所述金属层被布置在所述铜引线框架的第一侧上。
5.根据权利要求4所述的器件,其特征在于,所述金属层被布置在所述铜引线框架的第二侧上,所述铜引线框架的所述第二侧与所述铜引线框架的所述第一侧相反。
6.根据权利要求3所述的器件,其特征在于,还包括:模塑化合物,在所述金属氧化物层的至少第二部分上。
7.根据权利要求1所述的器件,其特征在于,所述金属层包括:镍、金或银。
8.根据权利要求7所述的器件,其特征在于,所述金属氧化物层包括:氧化镍、氧化金或氧化银。
9.一种器件,其特征在于,包括:
铜引线框架;
金属氧化物层,在所述铜引线框架的至少第一部分上;以及
锡层,在所述铜引线框架的至少第二部分上,所述金属氧化物层在所述锡层和所述铜引线框架之间。
10.根据权利要求9所述的器件,其特征在于,还包括:第一金属层,在所述铜引线框架的至少第三部分上,所述第一金属层在所述铜引线框架和所述金属氧化物层之间。
11.根据权利要求10所述的器件,其特征在于,所述第一金属层包括银,并且所述金属氧化物层包括氧化银。
12.根据权利要求10所述的器件,其特征在于,还包括:第二金属层,在所述第一金属层和所述铜引线框架之间。
13.根据权利要求9所述的器件,其特征在于,还包括:半导体裸片,在所述金属氧化物层上。
14.根据权利要求13所述的器件,其特征在于,还包括:模塑化合物,在所述半导体裸片和所述金属氧化物层的至少第三部分上,所述模塑化合物与所述锡层相邻。
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