[实用新型]器件有效

专利信息
申请号: 201922397352.6 申请日: 2019-12-27
公开(公告)号: CN211879377U 公开(公告)日: 2020-11-06
发明(设计)人: L·M·C·迪迪奥 申请(专利权)人: 意法半导体国际有限公司
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495;H01L21/48
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 郭星
地址: 瑞士*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 器件
【权利要求书】:

1.一种器件,其特征在于,包括:

铜引线框架;

金属层,在所述铜引线框架的至少部分上;以及

金属氧化物层,在所述金属层上。

2.根据权利要求1所述的器件,其特征在于,所述引线框架的所述部分包括引线。

3.根据权利要求2所述的器件,其特征在于,还包括:锡层,在所述金属氧化物层的至少第一部分上。

4.根据权利要求3所述的器件,其特征在于,所述金属层被布置在所述铜引线框架的第一侧上。

5.根据权利要求4所述的器件,其特征在于,所述金属层被布置在所述铜引线框架的第二侧上,所述铜引线框架的所述第二侧与所述铜引线框架的所述第一侧相反。

6.根据权利要求3所述的器件,其特征在于,还包括:模塑化合物,在所述金属氧化物层的至少第二部分上。

7.根据权利要求1所述的器件,其特征在于,所述金属层包括:镍、金或银。

8.根据权利要求7所述的器件,其特征在于,所述金属氧化物层包括:氧化镍、氧化金或氧化银。

9.一种器件,其特征在于,包括:

铜引线框架;

金属氧化物层,在所述铜引线框架的至少第一部分上;以及

锡层,在所述铜引线框架的至少第二部分上,所述金属氧化物层在所述锡层和所述铜引线框架之间。

10.根据权利要求9所述的器件,其特征在于,还包括:第一金属层,在所述铜引线框架的至少第三部分上,所述第一金属层在所述铜引线框架和所述金属氧化物层之间。

11.根据权利要求10所述的器件,其特征在于,所述第一金属层包括银,并且所述金属氧化物层包括氧化银。

12.根据权利要求10所述的器件,其特征在于,还包括:第二金属层,在所述第一金属层和所述铜引线框架之间。

13.根据权利要求9所述的器件,其特征在于,还包括:半导体裸片,在所述金属氧化物层上。

14.根据权利要求13所述的器件,其特征在于,还包括:模塑化合物,在所述半导体裸片和所述金属氧化物层的至少第三部分上,所述模塑化合物与所述锡层相邻。

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