[实用新型]一种IC引线测试点跟踪与定位装置有效

专利信息
申请号: 201922438494.2 申请日: 2019-12-30
公开(公告)号: CN211182162U 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 王利强;徐兵兵;张宁;曹建朝 申请(专利权)人: 天津巨来科技有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;H01L21/68;G01B11/00
代理公司: 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 代理人: 李朦
地址: 300000 天津市津南*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 ic 引线 测试 跟踪 定位 装置
【权利要求书】:

1.一种IC引线测试点跟踪与定位装置,其特征在于:包括传送装置(1)、压板(2)、IC引线框架带(3)、第一激光共焦传感器(4)、第二激光共焦传感器(5)、第三激光共焦传感器(6)、第四激光共焦传感器(7)、测试点(8)、参考点(9),所述传送装置(1)上设置有压板(2),压板(2)下方设置有IC引线框架带(3),所述IC引线框架带(3)两端设置有测试点(8)和参考点(9),所述测试点(8)、参考点(9)下方相对应位置设置有第一激光共焦传感器(4)、第二激光共焦传感器(5)、第三激光共焦传感器(6)和第四激光共焦传感器(7)。

2.根据权利要求1所述的一种IC引线测试点跟踪与定位装置,其特征是:所述的IC引线框架带(3)两端设置有测试点(8)和参考点(9),一端设置有一个测试点(8)和参考点(9),且测试点(8)和参考点(9)设置位置平行。

3.根据权利要求1所述的一种IC引线测试点跟踪与定位装置,其特征是:所述的第一激光共焦传感器(4)、第三激光共焦传感器(6)对应点为测试点(8)位置。

4.根据权利要求1所述的一种IC引线测试点跟踪与定位装置,其特征是:所述的第二激光共焦传感器(5)、第四激光共焦传感器(7)对应点为参考点(9)位置。

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