[实用新型]高双面率P型单晶硅双面电池结构有效

专利信息
申请号: 201922453130.1 申请日: 2019-12-30
公开(公告)号: CN210837775U 公开(公告)日: 2020-06-23
发明(设计)人: 庄宇峰;万义茂;崔艳峰;袁声召;于元元;胡玉婷 申请(专利权)人: 东方日升(常州)新能源有限公司
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352;H01L31/0224;H01L31/0216
代理公司: 浙江永鼎律师事务所 33233 代理人: 郭小丽
地址: 213251 江苏省常*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 双面 单晶硅 电池 结构
【权利要求书】:

1.一种高双面率P型单晶硅双面电池结构,包括P型硅衬底(1),其特征在于,所述的P型硅衬底(1)正面设有电极(2),P型硅衬底(1)背面设有铝栅线(3),P型硅衬底(1)正面有里往外依次设有正面介质钝化层(4)和正面氮化硅层(5),P型硅衬底(1)背面有里往外依次设有背面介质钝化层(6)和背面氮化硅层(7)。

2.根据权利要求1所述的高双面率P型单晶硅双面电池结构,其特征在于,所述的P型硅衬底(1)正面且位于正面介质钝化层(4)下方还设有发射极层(8),电极(2)连接发射极层(8)。

3.根据权利要求2所述的高双面率P型单晶硅双面电池结构,其特征在于,正面介质钝化层(4)包括位于发射极层(8)上的正面二氧化硅薄膜层,以及位于正面二氧化硅薄膜层上的正面氧化铝薄膜层,背面介质钝化层(6)包括位于P型硅衬底(1)背面上的背面二氧化硅薄膜层,以及位于背面二氧化硅薄膜层上的背面氧化铝薄膜层。

4.根据权利要求3所述的高双面率P型单晶硅双面电池结构,其特征在于,所述的正面二氧化硅薄膜层和背面二氧化硅薄膜层的厚度分别为1-3nm,所述的正面氧化铝薄膜层和背面氧化铝薄膜层的厚度分别为2-15nm。

5.根据权利要求1所述的高双面率P型单晶硅双面电池结构,其特征在于,所述的正面氮化硅层(5)厚度为75-85nm,背面氮化硅层(7)的厚度为100-120nm。

6.根据权利要求1所述的高双面率P型单晶硅双面电池结构,其特征在于,所述的背面氮化硅层(7)为开膜氮化硅层。

7.根据权利要求1所述的高双面率P型单晶硅双面电池结构,其特征在于,所述的铝栅线(3)有若干条且相互平行设置。

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