[实用新型]遮光组件有效
申请号: | 201922478471.4 | 申请日: | 2019-12-31 |
公开(公告)号: | CN212275965U | 公开(公告)日: | 2021-01-01 |
发明(设计)人: | 梁震;娄元帅;吴敬阳 | 申请(专利权)人: | 深圳市大疆创新科技有限公司 |
主分类号: | G01S7/481 | 分类号: | G01S7/481;G01S17/10 |
代理公司: | 深圳市力道知识产权代理事务所(普通合伙) 44507 | 代理人: | 何姣 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 遮光 组件 | ||
本实用新型提供了一种遮光组件,遮光组件包括光接收器和遮光件;光接收器设于接收光路中,用于接收探测物反射的预设光脉冲;遮光件和光接收器沿接收光路依次设置;其中,遮光件包括遮光部和光通道部,遮光部用于遮挡杂散光,光通道部用于供接收光路的光束穿过;杂散光为光接收器从接收光路外的方向接收的散射光或反射光,以减少到达光接收器的杂散光,提高测距装置的测量精度。
技术领域
本实用新型涉及测距设备技术领域,尤其涉及一种遮光组件。
背景技术
激光雷达等测距装置的工作原理是先向探测物发射探测光脉冲,而后接收从探测物反射回来的反射光脉冲,最后测距装置将探测光脉冲和反射光脉冲进行比较以及适当处理后,即可获知探测物的相关特征信息,例如探测物距离、方位、姿态、速度、高度等参数信息。然而,测距装置在工作过程中,由于测距装置自身会对光束进行反射和散射,因此会在测距装置的内部产生无序的杂散光。这些杂散光若进入测距装置的光接收器,则会干扰测距装置的正常工作,降低测距装置的测量精度。
实用新型内容
基于此,本实用新型提供了一种遮光组件,旨在减少到达光接收器的杂散光,提高测距装置的测量精度。
本实用新型提供了一种光发射结构,用于测距装置,所述遮光组件包括:
光接收器,设于接收光路中,用于接收探测物反射的预设光脉冲;
遮光件,所述遮光件和所述光接收器沿所述接收光路依次设置;
其中,所述遮光件包括遮光部和光通道部,所述遮光部用于遮挡杂散光,所述光通道部用于供接收光路的光束穿过;所述杂散光为所述光接收器从所述接收光路外的方向接收的散射光或反射光。
本实用新型实施例提供了一种遮光组件,通过遮光件能够尽可能减少到达光接收器的杂散光,使接收光路的光束可靠地被光接收器接收,有效保护了光接收器,避免杂散光干扰测距装置的正常工作,从而提高测距装置的测量精度。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本实用新型。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请一实施例提供的测距系统的结构示意图;
图2是本申请一实施例提供的测距装置的结构示意图;
图3是本申请一实施例提供的测距装置的剖面示意图;
图4是本申请一实施例提供的第一光脉冲和第二光脉冲的光路折叠示意图;
图5是本申请一实施例提供的第一光脉冲和第二光脉冲的光路展开示意图;
图6是本申请一实施例提供的测距装置在一角度的分解示意图;
图7是本申请一实施例提供的遮光件在一角度的结构示意图;
图8是本申请一实施例提供的遮光件在另一角度的结构示意图;
图9是本申请一实施例提供的遮光件的剖面示意图;
图10是本申请一实施例提供的测距装置的光接收器在感测第二光脉冲时的示意图其中,测距装置未设置遮光件;
图11是本申请一实施例提供的测距装置的光接收器在感测第二光脉冲时的示意图其中,测距装置设置有遮光件;
图12是本申请一实施例提供的遮光件的结构示意图,其中第二光脉冲穿设遮光件;
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