[发明专利]检测方法、检测装置及激光雷达有效
申请号: | 201980004997.9 | 申请日: | 2019-01-09 |
公开(公告)号: | CN111684237B | 公开(公告)日: | 2022-06-21 |
发明(设计)人: | 赵进;龙承辉;黄淮 | 申请(专利权)人: | 深圳市大疆创新科技有限公司 |
主分类号: | G01D5/347 | 分类号: | G01D5/347;G01B5/24;G01S17/87 |
代理公司: | 北京励诚知识产权代理有限公司 11647 | 代理人: | 赵爽 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 方法 装置 激光雷达 | ||
1.一种检测方法,用于检测旋转物的旋转参数,其特征在于,所述旋转物安装有码盘,所述码盘随所述旋转物的转动而转动,所述码盘上沿所述码盘的周向设置有N个被检部,所述N为大于2的整数,所述N个被检部包括N-K个第一被检部和K个第二被检部,K为整数且1≤K<N,沿所述码盘的周向,所述第一被检部的宽度不同于所述第二被检部的宽度,所述检测方法包括:
在所述码盘转动时,获取检测到所述被检部时的第一计数数据和相邻两个所述被检部之间的第二计数数据;
根据所述第一计数数据和所述第二计数数据确定所述旋转物的旋转参数,所述旋转参数包括旋转角度和旋转速度;
所述第二计数数据包括第二计数值,获取相邻两个所述被检部之间的第二计数数据,包括:
在检测到所述第一被检部和所述第二被检部中的每一个时,对所述第二计数值清零;
在接收到触发信号时,获取所述第二计数值;
所述第一计数数据包括第一计数值,根据所述第一计数数据和所述第二计数数据确定所述旋转物的旋转参数,包括:
利用所述码盘上一圈旋转时获得的所述第一计数值与所述码盘当前圈旋转时获得的所述第二计数值确定所述码盘当前圈旋转时的旋转角度;或
利用所述码盘上多圈旋转时获得的所述第一计数值的平均值与所述码盘当前圈旋转时获得的所述第二计数值确定所述码盘当前圈旋转时的旋转角度;
其中,所述码盘当前圈旋转时的旋转角度为所述旋转物当前圈旋转时的旋转角度;
获取检测到所述被检部时的第一计数数据,包括:
在检测到所述码盘的零位时,对所述第一计数值清零;
在检测到所述被检部时,获取所述第一计数值。
2.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述码盘的零位与其中一个所述第二被检部的位置对应。
3.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述触发信号为所述旋转物出射光和/或接收光时触发的信号。
4.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,利用所述码盘上一圈旋转时获得的所述第一计数值与所述码盘当前圈旋转时获得的所述第二计数值确定所述码盘当前圈旋转时的旋转角度,包括:
在接收到所述触发信号时,利用沿所述码盘旋转方向,上一个所述被检部在所述码盘上一圈旋转时获得的所述第一计数值、所述码盘当前圈旋转时获得的所述第二计数值与所述码盘上一圈旋转时获得的所述第一计数值的总和确定所述码盘当前圈旋转时的旋转角度;
利用所述码盘上多圈旋转时获得的所述第一计数值的平均值与所述码盘当前圈旋转时获得的所述第二计数值确定所述码盘当前圈旋转时的旋转角度,包括:
在接收到所述触发信号时,利用沿所述码盘旋转方向,上一个所述被检部在所述码盘上多圈旋转时获得的所述第一计数值的平均值、所述码盘当前圈旋转时获得的所述第二计数值与所述码盘上多圈旋转时获得的所述第一计数值的总和的平均值确定所述码盘当前圈旋转时的旋转角度。
5.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,所述第一计数数据包括第一计数值和第一计数频率,所述第二计数数据包括第二计数值和第二计数频率,根据所述第一计数数据和所述第二计数数据确定所述旋转物的旋转参数,包括:
根据所述第一计数频率和所述第一计数值确定所述码盘的旋转速度;或
根据所述第二计数频率和所述第二计数值确定所述码盘的旋转速度;
其中,所述码盘的旋转速度为所述旋转物的旋转速度。
6.根据权利要求5所述的检测方法,其特征在于,根据所述第一计数频率和所述第一计数值确定所述码盘的旋转速度,包括:
根据所述第一计数频率和所述第一计数值确定所述码盘旋转一圈所需的时长以确定所述码盘的旋转速度;
根据所述第二计数频率和所述第二计数值确定所述码盘的旋转速度,包括:
根据所述第二计数频率和所述第二计数值确定所述码盘旋转一圈所需的时长以确定所述码盘的旋转速度。
7.根据权利要求1所述的检测方法,其特征在于,沿所述码盘的周向,所述码盘分为宽度相等的N个检测区域,每个所述检测区域包括所述被检部和码盘部,所述被检部和所述码盘部交替分布。
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