[发明专利]检测方法、检测装置及激光雷达

说明书

一种检测方法、检测装置(10)及激光雷达(100)。检测方法用于检测旋转物的旋转参数。旋转物安装有码盘(12)，码盘(12)随旋转物的转动而转动。码盘(12)上沿码盘(12)的周向设置有N个被检部(122)，N为大于2的整数。N个被检部(122)包括N‑K个第一被检部(1222)和K个第二被检部(1224)，K为整数且1≤K＜N。沿码盘(12)的周向，第一被检部(1222)的宽度不同于第二被检部(1224)的宽度。检测方法包括：在码盘(12)转动时，获取检测到被检部(122)时的第一计数数据和相邻两个被检部(122)之间的第二计数数据(S10)；根据第一计数数据和第二计数数据确定旋转物的旋转参数(S20)。旋转参数包括旋转角度和旋转速度。

技术领域

本申请涉及运动检测领域，特别涉及一种检测方法、检测装置及激光雷达。

背景技术

目前，电机被广泛地应用于驱动物体旋转。而为了得到物体旋转时的角度，通常会在物体上安装检测角度的码盘。为了提高物体旋转角度的检测精度，需要提高码盘的齿数，同时还需要提高检测装置的精度，比如使用激光管或者使用透镜进行准直，然而，这样会增加成本和整个传感器的体积。

发明内容

本申请的实施方式提供一种检测方法、检测装置及激光雷达。

本申请实施方式的检测方法，用于检测旋转物的旋转参数，所述旋转物安装有码盘，所述码盘随所述旋转物的转动而转动，所述码盘上沿所述码盘的周向设置有N个被检部，所述N为大于2的整数，所述N个被检部包括N-K个第一被检部和K个第二被检部，K为整数且1≤K＜N，沿所述码盘的周向，所述第一被检部的宽度不同于所述第二被检部的宽度，所述检测方法包括：

在所述码盘转动时，获取检测到所述被检部时的第一计数数据和相邻两个所述被检部之间的第二计数数据；

根据所述第一计数数据和所述第二计数数据确定所述旋转物的旋转参数，所述旋转参数包括旋转角度和旋转速度。

本申请实施方式的检测方法，通过两个计数数据来确定旋转物的旋转参数，这样可缩小检测旋转物的旋转参数的检测装置的体积，降低成本，并且也能保证旋转物的旋转参数的检测精度。

本申请实施方式的检测装置，用于检测旋转物的旋转参数，所述检测装置包括码盘、检测件和处理器，所述旋转物安装有码盘，所述码盘随所述旋转物的转动而转动，所述码盘上沿所述码盘的周向设置有N个被检部，所述N为大于2的整数，所述N个被检部包括N-K个第一被检部和K个第二被检部，K为整数且1≤K＜N，沿所述码盘的周向，所述第一被检部的宽度不同于所述第二被检部的宽度，所述检测件用于检测所述第一被检部和所述第二被检部，所述处理器用于在所述码盘转动时，获取检测到所述被检部时的第一计数数据和相邻两个所述被检部之间的第二计数数据，以及用于根据所述第一计数数据和所述第二计数数据确定所述旋转物的旋转参数，所述旋转参数包括旋转角度和旋转速度。

本申请实施方式的检测装置，通过两个计数数据来确定旋转物的旋转参数，这样可缩小检测旋转物的旋转参数的检测装置的体积，降低成本，并且也能保证旋转物的旋转参数的检测精度。

本申请实施方式的激光雷达包括光学元件、驱动所述光学元件旋转的驱动组件和上述实施方式所述的检测装置，所述检测装置用于检测所述光学元件的旋转参数。

本申请实施方式的激光雷达，通过两个计数数据来确定光学元件的旋转参数，这样可缩小检测光学元件的旋转参数的检测装置的体积，降低成本，并且也能保证光学元件的旋转参数的检测精度。

本申请的实施方式的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实施方式的实践了解到。

附图说明

本申请的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本申请实施方式的检测装置的部分结构示意图；