[发明专利]流体测定装置、流体测定方法以及程序在审
申请号: | 201980007436.4 | 申请日: | 2019-01-23 |
公开(公告)号: | CN111566456A | 公开(公告)日: | 2020-08-21 |
发明(设计)人: | 长坂优志 | 申请(专利权)人: | 京瓷株式会社 |
主分类号: | G01F1/66 | 分类号: | G01F1/66;A61B5/026;A61B5/0285;G01F1/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王晖 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 流体 测定 装置 方法 以及 程序 | ||
1.一种流体测定装置,具备:
发光部,能够向包含流体的被照射物照射光;
光接收部,能够对由所述流体散射的散射光进行接收;和
控制部,具有基于所述散射光来生成频谱的生成部、以及基于所述频谱的特征分量来推定所述流体的流动状态的推定部,
所述控制部在由所述生成部生成基于测定对象的所述流体的第1频谱、以及基于已知的流动状态的所述流体的第2频谱之后,由所述推定部对比所述第1频谱的特征分量和所述第2频谱的特征分量,从而推定测定对象的所述流体的流动状态。
2.根据权利要求1所述的流体测定装置,其中,
所述被照射物还包含流体流过的流路,
所述生成部基于由所述流体散射的散射光与由所述流路散射的散射光相干涉而产生的干涉光,来生成所述频谱。
3.根据权利要求1或2所述的流体测定装置,其中,
根据基于所述散射光的多普勒偏移的信号而生成所述频谱。
4.根据权利要求1至3的任意一项所述的流体测定装置,其中,
所述推定部将基于所述频谱中的特定频率的强度的值以及基于特定区间的频率的强度的值的至少一方作为所述特征分量,来推定所述流体的流动状态。
5.根据权利要求4所述的流体测定装置,其中,
所述推定部将至少一个所述特定频率所对应的强度与所述特定频率以外的至少一个频率所对应的强度之比作为所述特征分量,来推定所述流体的流动状态。
6.根据权利要求4或5所述的流体测定装置,其中,
所述推定部将所述频谱中的所述特定区间的强度的平均以及方差的至少一方作为所述特征分量,来推定所述流体的流动状态。
7.根据权利要求4至6的任意一项所述的流体测定装置,其中,
所述推定部将所述频谱的所述特定区间的形状作为所述特征分量,来推定所述流体的流动状态。
8.根据权利要求7所述的流体测定装置,其中,
所述推定部通过二直线近似或者指数函数近似来判断所述第1频谱的形状与第2频谱的形状是否相似。
9.根据权利要求1至8的任意一项所述的流体测定装置,其中,
所述推定部使学习技术学习所述已知的流动状态与所述第2频谱的所述特征分量的关系之后,基于所述第1频谱的特征分量与所述关系,来推定测定对象的所述流体的流动状态。
10.根据权利要求1至9的任意一项所述的流体测定装置,其中,
所述推定部将所述流体的流速以及流量的至少一方推定为所述流体的流动状态。
11.根据权利要求1至10的任意一项所述的流体测定装置,其中,
所述发光部照射激光。
12.一种流体测定方法,具备:
向包含流体的被照射物照射光的步骤;
对由所述流体散射的散射光进行接收的步骤;
基于所述散射光来生成频谱的步骤;和
基于所述频谱的特征分量来推定所述流体的流动状态的步骤,
在基于测定对象的所述流体生成第1频谱,并基于已知的流动状态的所述流体生成第2频谱之后,对比所述第1频谱的特征分量与所述第2频谱的特征分量,来推定测定对象的所述流体的流动状态。
13.一种程序,所述程序使计算机具备如下步骤:
向包含流体的被照射物照射光的步骤;
对由所述流体散射的散射光进行接收的步骤;
基于所述散射光来生成频谱的步骤;和
基于所述频谱的特征分量来推定所述流体的流动状态的步骤,
在基于测定对象的所述流体生成第1频谱,并基于已知的流动状态的所述流体生成第2频谱之后,对比所述第1频谱的特征分量和所述第2频谱的特征分量,来推定测定对象的所述流体的流动状态。
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