[发明专利]流体测定装置、流体测定方法以及程序在审

专利信息
申请号: 201980007436.4 申请日: 2019-01-23
公开(公告)号: CN111566456A 公开(公告)日: 2020-08-21
发明(设计)人: 长坂优志 申请(专利权)人: 京瓷株式会社
主分类号: G01F1/66 分类号: G01F1/66;A61B5/026;A61B5/0285;G01F1/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王晖
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 流体 测定 装置 方法 以及 程序
【说明书】:

一实施方式所涉及的流体测定装置具备:发光部,能够向包含流体的被照射物照射光;光接收部,能够对由流体散射的散射光进行接收;以及控制部,具有基于散射光来生成频谱的生成部、以及基于频谱的特征分量来推定流体的流动状态的推定部。并且,控制部在由生成部生成基于测定对象的流体的第1频谱、以及基于已知的流动状态的流体的第2频谱之后,由推定部对比第1频谱的特征分量和第2频谱的特征分量,从而能够推定测定对象的流体的流动状态。

关联申请的相互参照

本申请主张2018年1月23日在日本进行专利申请的特愿2018-8501的优先权,为了参照将该在先申请的公开全文援引于此。

技术领域

本公开涉及流体测定装置、流体测定方法以及程序。

背景技术

以往,已知对流动的物体的流量或者流速进行测量的装置。例如,专利文献1中记载了以光学方式测量流量的装置。

在先技术文献

专利文献

专利文献1:JP特开2017-113320号公报

发明内容

一实施方式所涉及的流体测定装置具备:发光部,能够向包含流体的被照射物照射光;光接收部,能够对由流体散射的散射光进行接收;以及控制部,具有基于散射光来生成频谱的生成部、以及基于频谱的特征分量来推定流体的流动状态的推定部。并且,控制部在由生成部生成基于测定对象的流体的第1频谱、以及基于已知的流动状态的流体的第2频谱之后,由推定部对比第1频谱的特征分量和第2频谱的特征分量,从而能够推定测定对象的流体的流动状态。

一实施方式所涉及的流体测定方法具备:向包含流体以及流体流过的流路的被照射物照射光的步骤;对由流体散射的散射光进行接收的步骤;基于散射光来生成频谱的步骤;以及基于频谱的特征分量来推定流体的流动状态的步骤。并且,一实施方式所涉及的流体测定方法在基于测定对象的流体生成第1频谱,并基于已知的流动状态的流体生成第2频谱之后,对比第1频谱的特征分量和第2频谱的特征分量,从而能够推定测定对象的流体的流动状态。

一实施方式所涉及的程序使计算机具备:向包含流体以及流体流过的流路的被照射物照射光的步骤;对由流体散射的散射光进行接收的步骤;基于散射光来生成频谱的步骤;以及基于频谱的特征分量来推定流体的流动状态的步骤。并且,一实施方式所涉及的程序使计算机在基于测定对象的流体生成第1频谱,并基于已知的流动状态的流体生成第2频谱之后,对比第1频谱的特征分量和第2频谱的特征分量,从而能够推定测定对象的流体的流动状态。

附图说明

图1是表示一实施方式所涉及的流体测定装置的概略结构的一例的框图。

图2是说明基于一实施方式所涉及的流体测定装置的干涉光的检测的图。

图3是一实施方式所涉及的流体测定装置所执行的流程的例子。

图4是用于说明一实施方式所涉及的流体测定的原理的图。

图5是用于说明一实施方式所涉及的流体测定的原理的图。

图6是用于说明一实施方式所涉及的流体测定的原理的图。

图7是用于说明一实施方式所涉及的流体测定的原理的图。

图8是用于说明一实施方式所涉及的流体测定的原理的图。

具体实施方式

如果能够在各种条件下流体的流动状态,则可提高流体测定装置的方便性。本公开涉及提供一种方便性高的流体测定装置、流体测定方法以及程序。根据一实施方式,能够提供方便性高的流体测定装置、流体测定方法以及程序。以下,参照附图来说明本公开的一实施方式。首先,说明一实施方式所涉及的流体测定装置的结构。

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