[发明专利]流体测定装置、流体测定方法以及程序在审
申请号: | 201980007436.4 | 申请日: | 2019-01-23 |
公开(公告)号: | CN111566456A | 公开(公告)日: | 2020-08-21 |
发明(设计)人: | 长坂优志 | 申请(专利权)人: | 京瓷株式会社 |
主分类号: | G01F1/66 | 分类号: | G01F1/66;A61B5/026;A61B5/0285;G01F1/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王晖 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 流体 测定 装置 方法 以及 程序 | ||
一实施方式所涉及的流体测定装置具备:发光部,能够向包含流体的被照射物照射光;光接收部,能够对由流体散射的散射光进行接收;以及控制部,具有基于散射光来生成频谱的生成部、以及基于频谱的特征分量来推定流体的流动状态的推定部。并且,控制部在由生成部生成基于测定对象的流体的第1频谱、以及基于已知的流动状态的流体的第2频谱之后,由推定部对比第1频谱的特征分量和第2频谱的特征分量,从而能够推定测定对象的流体的流动状态。
关联申请的相互参照
本申请主张2018年1月23日在日本进行专利申请的特愿2018-8501的优先权,为了参照将该在先申请的公开全文援引于此。
技术领域
本公开涉及流体测定装置、流体测定方法以及程序。
背景技术
以往,已知对流动的物体的流量或者流速进行测量的装置。例如,专利文献1中记载了以光学方式测量流量的装置。
在先技术文献
专利文献
专利文献1:JP特开2017-113320号公报
发明内容
一实施方式所涉及的流体测定装置具备:发光部,能够向包含流体的被照射物照射光;光接收部,能够对由流体散射的散射光进行接收;以及控制部,具有基于散射光来生成频谱的生成部、以及基于频谱的特征分量来推定流体的流动状态的推定部。并且,控制部在由生成部生成基于测定对象的流体的第1频谱、以及基于已知的流动状态的流体的第2频谱之后,由推定部对比第1频谱的特征分量和第2频谱的特征分量,从而能够推定测定对象的流体的流动状态。
一实施方式所涉及的流体测定方法具备:向包含流体以及流体流过的流路的被照射物照射光的步骤;对由流体散射的散射光进行接收的步骤;基于散射光来生成频谱的步骤;以及基于频谱的特征分量来推定流体的流动状态的步骤。并且,一实施方式所涉及的流体测定方法在基于测定对象的流体生成第1频谱,并基于已知的流动状态的流体生成第2频谱之后,对比第1频谱的特征分量和第2频谱的特征分量,从而能够推定测定对象的流体的流动状态。
一实施方式所涉及的程序使计算机具备:向包含流体以及流体流过的流路的被照射物照射光的步骤;对由流体散射的散射光进行接收的步骤;基于散射光来生成频谱的步骤;以及基于频谱的特征分量来推定流体的流动状态的步骤。并且,一实施方式所涉及的程序使计算机在基于测定对象的流体生成第1频谱,并基于已知的流动状态的流体生成第2频谱之后,对比第1频谱的特征分量和第2频谱的特征分量,从而能够推定测定对象的流体的流动状态。
附图说明
图1是表示一实施方式所涉及的流体测定装置的概略结构的一例的框图。
图2是说明基于一实施方式所涉及的流体测定装置的干涉光的检测的图。
图3是一实施方式所涉及的流体测定装置所执行的流程的例子。
图4是用于说明一实施方式所涉及的流体测定的原理的图。
图5是用于说明一实施方式所涉及的流体测定的原理的图。
图6是用于说明一实施方式所涉及的流体测定的原理的图。
图7是用于说明一实施方式所涉及的流体测定的原理的图。
图8是用于说明一实施方式所涉及的流体测定的原理的图。
具体实施方式
如果能够在各种条件下流体的流动状态,则可提高流体测定装置的方便性。本公开涉及提供一种方便性高的流体测定装置、流体测定方法以及程序。根据一实施方式,能够提供方便性高的流体测定装置、流体测定方法以及程序。以下,参照附图来说明本公开的一实施方式。首先,说明一实施方式所涉及的流体测定装置的结构。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京瓷株式会社,未经京瓷株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201980007436.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。