[发明专利]检查用插座

权利要求书

1.一种检查用插座，其用于封入了IC芯片的IC封装件的检查，所述检查用插座具备：

第1触点端子，其与检查设备的第1导线端子接触；

第2触点端子，其与种类不同于所述第1导线端子的所述检查设备的第2导线端子接触；

第1接触机构，其使所述第1导线端子与所述第1触点端子接触；

第2接触机构，其使所述第2导线端子与所述第2触点端子接触；以及

非同步机构，其进行非同步动作，即在所述第2接触机构的接触动作之后进行所述第1接触机构的接触动作，

所述接触动作是，除所述第1导线端子或所述第2导线端子仅与某些接点接触的情况之外，能够得到与检查状态相当的接触状态的动作。

2.根据权利要求1所述的检查用插座，其中，

所述非同步机构在解除所述第2接触机构的接触之前，解除所述第1接触机构的接触。

3.根据权利要求1所述的检查用插座，其中，具备：

基座，其设于收纳所述检查设备的设置侧；

第1罩，其设置成相对于所述基座接近或分离；以及

第2罩，其设置成与所述第1罩相独立地相对于所述基座接近或分离，

所述第1接触机构以及所述第2接触机构根据所述第1罩以及所述第2罩的动作而被驱动。

4.根据权利要求3所述的检查用插座，其中，

所述第1罩具备收纳所述第2罩的第2罩收纳部。

5.根据权利要求3所述的检查用插座，其中，

具备插销，其在推压位置和分离位置之间进行往复动作，所述推压位置是在所述设置面的方向推压所述检查设备的与设置面相反侧的背面的位置，所述分离位置是从所述检查设备分离的位置，

所述插销根据所述第1罩和/或所述第2罩的动作，在检查所述检查设备时位于所述推压位置，在设置以及拆卸所述检查设备时位于所述分离位置。

6.根据权利要求5所述的检查用插座，其中，

所述插销根据所述第2罩而动作，

所述第2接触机构根据所述插销位于所述推压位置来进行接触动作。

7.根据权利要求6所述的检查用插座，其中，

所述插销根据所述插销位于所述分离位置来解除所述第2导线端子和所述第2触点端子的接触。

8.根据权利要求3所述的检查用插座，其中，

所述第1触点端子具备：一面侧触点部，其与所述第1导线端子的一面侧接触；另一面侧触点部，其与该第1导线端子的另一面侧接触；以及臂部，其使所述另一面侧触点部相对于所述一面侧触点部接近，以夹入所述第1导线端子，

所述第1罩具备与所述臂部接触并且规定该臂部的动作的凸轮部，

所述第1接触机构伴随着所述第1罩相对于所述基座的动作，利用根据所述凸轮部而动作的所述臂部，来进行接触动作。

9.根据权利要求8所述的检查用插座，其中，

所述臂部被驱动成，使夹入所述第1导线端子的所述另一面侧触点部从所述一面侧触点部分离来解除接触，

所述第1接触机构伴随着所述第1罩相对于所述基座的动作，利用根据所述凸轮部而动作的所述臂部，来解除接触。

10.根据权利要求8所述的检查用插座，其中，

所述一面侧触点部以及所述另一面侧触点部中任一方为导电体，另一方为树脂。

11.根据权利要求8所述的检查用插座，其中，

所述凸轮部具备动作阻力部，所述动作阻力部増大与该凸轮部接触而动作的所述臂部的动作阻力，

所述非同步机构根据所述臂部与所述动作阻力部接触来进行所述非同步动作。