[发明专利]半导体装置

说明书

面朝下安装芯片尺寸封装型的半导体装置(1)，具备具有第1电极(11)、第2电极(21)、对第1电极(11)与第2电极(21)之间的导通状态进行控制的控制电极(55)的晶体管元件(100)以及多个第1电阻元件(110)，多个第1电阻元件(110)的一方的电极均与第2电极(21)电连接，半导体装置(1)具有一个以上的外部电阻端子(30)、与第1电极(11)电连接的外部第1端子(10)、与控制电极(55)电连接的外部控制端子(40)，多个第1电阻元件(110)的另一方的电极均与一个以上的外部电阻端子(30)中的任一个接触连接，一个以上的外部电阻端子(30)、外部第1端子(10)、外部控制端子(40)是被形成在半导体装置(1)的表面的外部连接端子。

技术领域

本公开涉及半导体装置，尤其涉及CSP(Chip Size Package：芯片尺寸封装)型的半导体装置。

背景技术

以往已知的放电控制用的半导体装置具有一个晶体管元件、以及限制放电时的电流的一个电阻元件(例如，参考专利文献1)。

(现有技术文献)

(专利文献)

专利文献1∶国际公开第WO2015/166654号

在所述以往的半导体装置中，放电电流控制用的电阻元件只有一个，在半导体装置上，放电控制时的发热位置，只存在于配置有电阻元件的局部区域。在这个情况下，该局部区域的温度超过半导体装置的允许动作温度，会导致半导体装置破坏。此外对产生的热进行散热时，将局部区域发生的热向其周围区域传热是不容易的，所以散热效率不佳。

发明内容

于是，本公开的目的在于提供一种半导体装置，在放电控制时，能够将电阻元件的发热最高温度比以往降低，并且能够比以往高效地进行散热。

本公开涉及的半导体装置是面朝下安装芯片尺寸封装型的半导体装置，具有晶体管元件以及多个第1电阻元件，所述晶体管元件具有第1电极、第2电极、以及对所述第1电极与所述第2电极之间的导通状态进行控制的控制电极，所述多个第1电阻元件的一方的电极，均与所述第2电极电连接，所述半导体装置具有一个以上的外部电阻端子、与所述第1电极电连接的外部第1端子、以及与所述控制电极电连接的外部控制端子，所述多个第1电阻元件的另一方的电极均与所述一个以上的外部电阻端子中的任一个接触连接，所述一个以上的外部电阻端子、所述外部第1端子、以及所述外部控制端子，是被形成在所述半导体装置的表面的外部连接端子。

通过该构成，将成为发热源的第1电阻元件并列地排列多个，所以在放电控制时，发热位置被分散在配置有多个第1电阻元件的位置，并且各个第1电阻元件中发热最高温度能够比以往减少。从而既能防止在放电控制时的半导体装置破坏，又能对半导体装置的发热比以往高效地进行散热。

通过本公开涉及的半导体装置，既能防止在放电控制时的半导体装置的破坏，又能对半导体装置产生的热比以往高效地进行散热。

附图说明

图1是实施方式涉及的半导体装置的外形图。

图2是实施方式涉及的半导体装置的电路图。

图3是实施方式涉及的半导体装置的上面透视图。

图4是实施方式涉及的半导体装置的截面图。

图5是实施方式涉及的半导体装置的上面透视图。

图6是实施方式涉及的半导体装置的电路图。

图7是实施方式涉及的半导体装置的截面图。

图8是实施方式涉及的半导体装置的截面图。

图9是实施方式涉及的半导体装置的截面图。

图10是实施方式涉及的半导体装置的上面透视图。