[发明专利]分析碳氢化合物的方法

权利要求书

1.分析碳氢化合物的方法，其包括：

-根据第一受控温度曲线实施气相色谱分离，以将样品分离成多种分析物；

-通过测量至少一个以其谐振频率振动的覆盖有功能层的纳米机电系统(NEMS)型谐振器在所述功能层吸附或解吸分析物的作用下谐振频率的变化来检测至少一种所述分析物，

所述方法的特征在于谐振器经受低于第一曲线的第二受控温度曲线。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一曲线和第二曲线之间的温差在5℃和150℃之间，优选在30℃和100℃之间，更优选在40℃和60℃之间。

3.根据权利要求1或2中任一项所述的方法，其中所述第一曲线的温度在50℃和400℃之间变化。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中第二曲线的温度在0℃和350℃之间变化。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中对至少一种所述分析物的检测还包括测量所述谐振器的谐振振幅的变化。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其中所述样品包含具有16至40个碳原子的碳链。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其中，所述谐振器被封装在温度调节腔室中，所述腔室包括温度调节单元，所述温度调节单元被配置为使腔室内的温度以受控方式变化。

8.根据权利要求7所述的方法，其中色谱柱被封装在腔室中，所述腔室与封装谐振器的腔室热解耦。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其还包括通过布置在与所述谐振器相同的流体导管中的热导计分析所述至少一种分析物。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法，其包括实施一种处理，以从所述谐振器响应的基线中减去称为空白响应的谐振器响应的基线，所述空白响应是在没有流体循环的情况下对于相同的温度曲线预先测量的。

11.根据权利要求1至9中任一项所述的方法，其还包括对至少一个称为参考谐振器的第二谐振器的谐振频率的变化实施测量，所述第二谐振器经受相同的温度曲线但不暴露于分析物，和实施被配置为从暴露于分析物的谐振器的响应信号中减去参考谐振器的响应信号的处理。

12.根据权利要求1至11中任一项所述的方法，其中所述分析物的分子组成从所述谐振器谐振频率变化的测量中推导出来。

13.根据权利要求12结合权利要求5所述的方法，其中所述分析物的流体特性进一步从所述谐振器的谐振振幅变化的测量中推导出来。

14.用于比较两种石油馏分的方法，其中实施根据权利要求1至13中任一项所述的方法以分析每个所述馏分的组成。

15.用于测定碳氢化合物中确定的化合物的方法，其中实施根据权利要求1至13中任一项所述的方法以检测碳氢化合物样品中的所述化合物。

16.用于测定水中确定的碳氢化合物的方法，其中实施根据权利要求1至13中任一项所述的方法以检测水样中的所述碳氢化合物。