[发明专利]用于测试或调整带电粒子检测器的方法以及相关的检测系统

权利要求书

1.一种诊断及/或调整一质谱仪的一带电粒子检测器的方法，其特征在于：所述方法包括：

从一光子源提供入射到所述带电粒子检测器的多个光子；以及

通过所述带电粒子检测器来检测入射到所述带电粒子检测器的所述多个光子的一响应，在所述质谱仪中没有任何电离事件发生，

其中所述质谱仪还包括一飞行管，所述带电粒子检测器与所述飞行管连通，所述光子源位于或靠近所述飞行管的一基部。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：

所述带电粒子检测器包括一离子检测器；

其中所述光子源包括一发光二极管(LED)，以及

其中所述检测包括确定所述离子检测器是否提供响应来自所述发光二极管的光的一输出信号。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于：通过对来自所述发光二极管的所述光进行脉冲，从而提供所述多个光子。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于：所述方法还包括：

响应于所述离子检测器的所述输出信号，将所述离子检测器的一信号增益与一预定值或与另一个离子检测器的一测量信号增益进行比较。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于：所述方法还包括：

响应于确定所述离子检测器的所述信号增益不匹配所述预定值及/或不匹配所述另一个离子检测器的所述测量信号增益，从而调整所述离子检测器的所述信号增益。

6.如权利要求2至5任一项所述的方法，其特征在于：所述方法还包括：

改变产生所述光的所述发光二极管的电流：以及调整所述离子检测器的一信号增益。

7.如权利要求2至5任一项所述的方法，其特征在于：

所述发光二极管包括一紫外线(UV)发光二极管，其中提供的所述多个光子包括将所述紫外线发光二极管的一第一电流改变为所述紫外线发光二极管的一第二较大或较小的电流；以及其中所述方法还包括：响应于确定从所述离子检测器的一第一输出信号到所述离子检测器的一第二输出信号的一变化与所述紫外线发光二极管的所述第一电流到所述紫外线发光二极管的所述第二电流的所述变化成正比，从而确定所述离子检测器是正常运作的。

8.如权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于：提供所述多个光子包括向所述光子源施加电流以提供入射在所述带电粒子检测器的一微通道板(MCP)上的所述多个光子。

9.如权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于：所述方法还包括：

确定离子是否到达所述带电粒子检测器，其中响应于确定所述离子是否到达所述带电粒子检测器，在没有向所述带电粒子检测器提供离子的情况下提供所述多个光子。

10.如权利要求9所述的方法，其特征在于：所述方法还包括：

在确定所述离子抵达所述带电粒子检测器之前，确定所述离子是否由来自一光源的光产生：以及

确定没有信号由所述质谱仪产生，其中响应于确定没有信号由所述质谱仪产生，执行确定所述离子是否由来自所述光源的所述光产生。

11.如权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于：所述方法还包括：改变所述光子源的光功率。

12.如权利要求2至5任一项所述的方法，其特征在于：所述方法还包括：通过以下方式测试所述离子的一动态范围：

改变施加到所述发光二极管的一电流；以及

通过所述离子检测器测量经由改变所述发光二极管的所述电流产生的光子输出的一范围的一响应。

13.如权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于：所述方法还包括：

接收来自所述质谱仪的一壳体的一离子光学系统的一个或多个部分，其中当移除所述离子光学系统的一个或多个部分时，执行所述提供及检测。