[发明专利]用于测试或调整带电粒子检测器的方法以及相关的检测系统

说明书

本发明提供多种用于测试或调整一带电粒子检测器的方法。一种诊断及/或调整一仪器的一带电粒子检测器的方法包括：从一光子源提供入射到所述带电粒子检测器的多个光子。此外，所述方法包括通过所述带电粒子检测器来检测入射到所述带电粒子检测器的所述多个光子的一响应。本发明还提供多种相关的检测系统。

相关申请

本申请主张于2018年2月13日提交的美国临时专利申请序号62/629,840的权益及优先权，其内容通过引用结合于本文中，如同在此全文引用一样。

技术领域

本发明涉及多种质谱仪及其他多种用于检测带电粒子的仪器。

背景技术

质谱仪是将样品电离，然后确定所形成的离子集合的质荷比的装置。飞行时间质谱仪（TOFMS）是一种著名的质谱仪，在这种质谱仪中，离子的质荷比取决于在电场作用下，一离子从所述离子源传输到一检测器所需的时间。TOFMS中的光谱质量反映了离子束加速进入一无场漂移区（field free drift region）之前的所述离子束的初始条件。具体地，导致相同质量的离子具有不同的动能及/或从空间中的不同位点加速的任何因素都可能导致一光谱分辨率下降，从而导致一质量准确度下降。

基质辅助激光解吸电离（MALDI）是一种制备用于质谱分析的气相生物分子离子的方法。MALDI-TOF延迟萃取技术（DE）的发展使得基于MALDI仪器的高分辨率分析成为常规。在DE-MALDI中，在激光触发电离事件及加速脉冲应用于TOF源区之间增加了一个短延迟。快离子（即高能离子）比慢离子走得更远，从而将电离时的能量分布转化为加速时的一空间分布（在提取脉冲应用之前的电离区域）。

参见美国专利第5625184号、第5627369号、第5760393号及第9536726号。另请参见Wiley等人的《提高分辨率的飞行时间质谱仪》，科学仪器评论期刊，第26卷，第12期，第1150至1157页（2004年）；M.L.Vestal的《现代MALDI飞行时间质谱法》，《质谱学期刊》，第44卷，第3期，第303至317页（2009年）；Vestal等人的《基质辅助激光解析电离飞行时间的分辨率及质量准确度》，《美国质谱学会杂志》，第9卷，第9期，第892至911页（1998年）；以及Vestal等人的《蛋白质组学的高性能MALDI-TOF质谱法》，国际质谱杂志，第268卷，第2期，第83至92页（2007年）。这些文件的内容在此以引用的方式并入本文件，如同在本文中完整地叙述一样。

发明内容

本发明的实施例涉及用于测试或调整（例如：校准/调节）离子检测器或其他带电粒子检测器的方法。根据一些实施例，一种用于诊断及/或调节一仪器的一带电粒子检测器的方法可以包括从一光子源提供入射到所述带电粒子检测器的多个光子。此外，所述方法可以包括由所述带电粒子检测器检测入射到所述带电粒子检测器的所述多个光子的一响应。

在一些实施例中，所述带电粒子检测器可包括一离子检测器，所述光子源可包括一发光二极管（LED），以及所述检测包括确定所述离子检测器是否提供响应来自所述发光二极管的光的一输出信号。在一些实施例中，通过对来自所述发光二极管的所述光进行脉冲，从而提供所述多个光子。在一些实施例中，所述方法可包括：响应于所述离子检测器的所述输出信号，将所述离子检测器的一信号增益与一预定值或与另一个离子检测器的一测量信号增益进行比较。此外，所述方法可包括：响应于确定所述离子检测器的所述信号增益不匹配所述预定值及/或不匹配所述另一个离子检测器的所述测量信号增益，从而调整所述离子检测器的所述信号增益。