[发明专利]光检测装置、光检测方法和光学式测距传感器

权利要求书

1.一种光检测装置，其根据检测开始定时而检测入射的光，其中，该光检测装置具有：

多个受光元件，它们接收光，分别生成表示受光结果的输出信号；

信号合成电路，其对来自各受光元件的多个输出信号进行合计，从而生成合成信号；

检测电路，其检测所述合成信号达到第1阈值以上的定时，从而生成表示检测出的定时的检测信号；

时间计测电路，其根据所述检测信号来计测所述检测开始定时与所述检测出的定时之间的测量期间；以及

定时提取电路，其在以所述检测出的定时为基准的预定期间内，提取表示所述合成信号增加的定时的定时信息。

2.根据权利要求1所述的光检测装置，其中，

所述受光元件是使雪崩光电二极管在盖革模式下动作的单光子雪崩光电二极管。

3.根据权利要求1或2所述的光检测装置，其中，

该光检测装置还具有运算部，该运算部根据所提取的定时信息和所计测的测量期间，计算从所述检测开始定时到所述定时信息表示的定时为止的期间。

4.根据权利要求3所述的光检测装置，其中，

所述运算部执行基于所计算出的期间和所述测量期间的统计处理。

5.根据权利要求1或2所述的光检测装置，其中，

所述定时提取电路具有：

至少一个比较电路，其按照每个第2阈值设置，生成表示所述合成信号是否为该第2阈值以上的二值信号；以及

保持电路，其按照每个所述比较电路设置，在直至所述检测信号表示的定时为止的预定期间内，保持基于来自该比较电路的二值信号的定时信息。

6.根据权利要求1或2所述的光检测装置，其中，

所述定时提取电路具有：

多个比较电路，它们按照每个第2阈值设置，生成表示所述合成信号是否为该第2阈值以上的二值信号；

综合电路，其根据来自各比较电路的多个二值信号来生成综合性地表示各个比较结果的定时的综合信号；以及

保持电路，其根据所述综合信号，保持直至所述检测信号表示的定时为止的预定期间内的所述定时信息。

7.根据权利要求5所述的光检测装置，其中，

所述检测电路具有延迟电路，该延迟电路使所述检测信号延迟预定的延迟期间量而输出至所述保持电路，

所述第2阈值中的至少一个比所述第1阈值大。

8.根据权利要求1或2所述的光检测装置，其中，

所述第1阈值根据所述合成信号的最大值来设定。

9.一种光学式测距传感器，其具有：

投光部，其投射光；以及

权利要求1～8中的任意一项所述的光检测装置，

所述光检测装置的时间计测电路将所述投光部投射光的定时用作所述检测开始定时，对所述测量期间进行计测。

10.一种光检测方法，是具有多个受光元件的光检测装置根据检测开始定时而检测入射的光的光检测方法，其中，该光检测方法具有以下步骤：

在所述多个受光元件中接收光，分别生成表示受光结果的输出信号；

对来自各受光元件的多个输出信号进行合计，从而生成合成信号；

检测所述合成信号达到第1阈值以上的定时，从而生成表示检测出的定时的检测信号；

根据所述检测信号来计测所述检测开始定时与所述检测出的定时之间的测量期间；以及

在以所述检测出的定时为基准的预定期间内，取得表示所述合成信号增加的定时的定时信息。