[发明专利]光检测装置、光检测方法和光学式测距传感器

说明书

光检测装置(1)根据检测开始定时而检测入射的光。光检测装置具有多个受光元件(10a～10c)、信号合成电路(13)、检测电路(14)、时间计测电路(4)和定时提取电路(3)。多个受光元件接收光，分别生成表示受光结果的输出信号。信号合成电路对来自各受光元件的多个输出信号进行合计，从而生成合成信号。检测电路检测合成信号达到第1阈值(V1)以上的定时，从而生成检测信号。时间计测电路根据检测信号，计测检测开始定时与检测出的定时之间的测量期间。定时提取电路在以检测出的定时为基准的预定期间内，提取表示合成信号增加的定时的定时信息(D3)。

技术领域

本公开涉及光检测装置、光检测方法、以及具有光检测装置的光学式测距传感器。

背景技术

已知有利用光的飞行时间(TOF)的光学式测距传感器。光学式测距传感器对物体照射光，通过检测被物体反射后的光，测量与在到物体之间往复的光的飞行时间对应的距离。关于光学式测距传感器，提出有将SPAD(单光子雪崩光电二极管)用于光检测的技术(例如，专利文献1、2)。

专利文献1公开了在光学测距装置中具有多个SPAD的光检测器。专利文献1的光检测器将从多个SPAD输出的矩形脉冲相加，对相加得到的输出值与预定的基准值进行比较，根据比较结果来输出了触发信号。

专利文献2公开了在受光部中具有多个SPAD的测距装置。在表示从多个SPAD输出的电脉冲的合计的合计信号超过预定的阈值并且合计信号的上升沿的斜率超过预定的倾斜阈值的情况下，专利文献2的测距装置判定为检测出测量脉冲。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特许第5644294号公报

专利文献2：美国专利第2015/0177369号说明书

发明内容

发明要解决的课题

在专利文献1等现有技术中，根据要知晓由多个SPAD同时检测出的光子的合计数量的目的，在基于多个SPAD的每一次光检测时，一个定时成为检测对象。SPAD对光子的反应是随机的，因此，例如为了使用统计处理高精度地进行光检测，优选在使多个SPAD同时接收光时得到多个定时。

本公开的目的在于提供一种能够容易高精度地进行光学式测距传感器中的光检测的光检测装置、光检测方法和光学式测距传感器。

用于解决课题的手段

本公开的光检测装置根据检测开始定时而检测入射的光。光检测装置具有多个受光元件、信号合成电路、检测电路、时间计测电路和定时提取电路。多个受光元件接收光，分别生成表示受光结果的输出信号。信号合成电路对来自各受光元件的多个输出信号进行合计，从而生成合成信号。检测电路检测合成信号达到第1阈值以上的定时，从而生成表示检测出的定时的检测信号。时间计测电路根据检测信号，计测检测开始定时与检测出的定时之间的测量期间。定时提取电路在以检测出的定时为基准的预定期间内，提取表示合成信号增加的定时的定时信息。

本公开的光检测方法提供光检测装置根据检测开始定时而检测入射的光的方法。

本公开的光学式测距传感器具有：投光部，其投射光；以及光检测装置。光检测装置的时间计测电路将所述投光部投射光的定时用作所述检测开始定时，对所述测量期间进行计测。

发明效果

根据本公开的光检测装置、光检测方法和光学式测距传感器，能够容易高精度地进行光学式测距传感器中的光检测。

附图说明

图1是用于说明本公开的光检测装置的应用例的图。

图2是示出实施方式1的光学式测距传感器的结构的框图。

图3是示出实施方式1的光检测装置的结构的框图。