[发明专利]用于使用质谱法量化两种或更多种分析物的方法和系统在审

专利信息
申请号: 201980017985.X 申请日: 2019-01-07
公开(公告)号: CN111819436A 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: S.巴扎甘;H.巴蒂艾 申请(专利权)人: 珀金埃尔默健康科学加拿大股份有限公司
主分类号: G01N27/00 分类号: G01N27/00;H01J49/12;H01J49/26
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 詹承斌;李真
地址: 加拿大安大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 使用 质谱法 量化 多种 分析 方法 系统
【说明书】:

本文所描述的某些实施方案涉及检测存在于诸如纳米颗粒或纳米结构的单系统中的两种或更多种分析物的方法和系统。在一些实例中,所述方法和系统可估计数据间隙并且将强度曲线拟合到所获得的检测值,使得可量化存在于所述单系统中的所述两种或更多种分析物的量。

技术领域

本申请涉及使用质谱法量化两种或更多种分析物的方法和系统。在某些配置中,描述了在检测瞬态样品中的两种或更多种不同分析物时填充质谱数据间隙以准许量化这两种或更多种不同分析物中的每一种的方法和系统。

背景技术

在许多质谱方法中,将样品引入电离源中以使样品中的物质电离。可从样品中的其他离子中选择或过滤要检测的分析物离子,之后将感兴趣的分析物离子提供到检测器。

发明内容

在一个方面,提供了一种使用质谱仪来量化表示瞬态样品中的两种或更多种分析物的瞬态事件的方法。

在某些配置中,所述方法包括:通过有区别地降低碰撞反应池中的离子云中的不同分析物离子的离子速度来加宽离子云。所述离子云可包括来自所述瞬态样品的第一分析物的离子和来自所述瞬态样品的第二分析物的离子。例如,通过利用气体对所述碰撞反应池进行加压,可有区别地降低所述不同离子的离子速度。

在其他配置中,所述方法可包括:将包括离子速度有区别地增加的所述不同离子的所述加宽离子云从所述碰撞反应池提供到在所述碰撞反应池下游流体耦接到所述碰撞反应池的质量分析器,以使用所述质量分析器来在来自所述第一分析物的所述离子与来自所述第二分析物的所述离子之间交替选择。

在一些配置中,所述方法可包括:将交替选择的来自所述第一分析物的所述离子和来自所述第二分析物的所述离子从所述质量分析器提供到流体耦接到所述质量分析器的下游检测器,以在检测时段期间将来自所述第一分析物的所提供离子检测为第一检测值,并且在所述检测时段期间将来自所述第二分析物的所提供离子检测为第二检测值。

在另外的配置中,所述方法可包括:使用所检测的第一检测值来生成表示所述样品中的所述第一分析物的第一强度曲线,以及使用所检测的第二检测值来生成表示所述样品中的所述第二分析物的第二强度曲线。

在一些情况下,所述方法可包括:使用所生成的第一强度曲线来确定所述瞬态样品中的所述第一分析物的量,以及使用第二所生成的强度曲线来确定所述瞬态样品中的所述第二分析物的量。

在一些实例中,所述方法包括:使用第一分析物预扫描曲线来确定所述所生成的第一强度曲线的形状,以及使用第二分析物预扫描曲线来确定所述所生成的第二强度曲线的形状。在其他实例中,所述方法包括:使用所述所生成的第一强度曲线的峰高来确定所述第一分析物的量。在一些情况下,所述方法包括:使用所述所生成的第二强度曲线的峰高来确定所述第二分析物的量。在其他情况下,所述方法包括:使用所述所生成的第一强度曲线下方的面积来确定所述第一分析物的量。在一些实例中,所述方法包括:使用所述所生成的第二强度曲线下方的面积来确定所述第二分析物的量。

在其他配置中,所述方法包括:更改所述碰撞反应池内的轴向场强度以进一步加宽所述碰撞反应池内中的所述离子云。例如,所述方法可包括:降低向所述碰撞反应池内的轴向电极(例如,两个或更多个轴向电极)提供的电压以更改所述碰撞反应池内的所述轴向场强度。

在一些配置中,所述方法可包括:更改所述质谱仪的采样深度以进一步加宽所述离子云。

在某些实例中,所述方法包括:将所述瞬态样品配置成包括单纳米颗粒、单纳米结构、单微粒、单微结构、单细胞或细胞的单细胞器。

在另一方面,描述了一种使用质谱仪来量化瞬态样品中的两种或更多种无机分析物的方法,其中所述瞬态样品包括各自存在于单系统中的第一无机分析物和第二无机分析物。

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