[发明专利]反应处理装置

权利要求书

1.一种反应处理装置，其特征在于，包括：

反应处理容器，其形成有供样本移动的流路，

第1荧光检测装置，其使第1激发光照射所述流路中设定的第1荧光检测区域中的样本，并对通过所述第1激发光的照射而从样本产生的第1荧光进行检测，以及

第2荧光检测装置，其使第2激发光照射所述流路中设定的第2荧光检测区域中的样本，并对通过所述第2激发光的照射而从样本产生的第2荧光进行检测；

所述第1荧光的波长范围和所述第2激发光的波长范围的至少一部分重叠，

所述第1激发光及所述第2激发光以规定的占空比闪烁发光，

在将所述第1激发光和所述第2激发光的闪烁的占空比设为d时，所述第1激发光与所述第2激发光的闪烁的相位差被设定在2π(p_m-Δp_m)[rad]～2π(p_m+Δp_m)[rad]的范围内、或2π{(1-p_m)-Δp_m}[rad]～2π{(1-p_m)+Δp_m}[rad]的范围内，其中p_m＝d-d²及Δp_m＝0.01×p_m。

2.一种反应处理装置，其特征在于，包括：

反应处理容器，其形成有供样本移动的流路，

第1荧光检测装置，其使第1激发光照射所述流路中设定的第1荧光检测区域中的样本，并对通过所述第1激发光的照射而从样本产生的第1荧光进行检测，以及

第2荧光检测装置，其使第2激发光照射所述流路中设定的第2荧光检测区域中的样本，并对通过所述第2激发光的照射而从样本产生的第2荧光进行检测；

所述第1荧光的波长范围和所述第2激发光的波长范围的至少一部分重叠，

所述第1激发光及所述第2激发光以规定的占空比闪烁发光，

在将所述第1激发光和所述第2激发光的闪烁的占空比设为d时，所述第1激发光与所述第2激发光的闪烁的相位差被设定在2π(p_m-Δp_m)[rad]～2π(p_m+Δp_m)[rad]的范围内、或2π{(1-p_m)-Δp_m}[rad]～2π{(1-p_m)+Δp_m}[rad]的范围内，其中p_m＝d-d²及Δp_m＝(d-d²)/{k·(N₀')/V¹₀}，N₀'是所述第1激发光和所述第2激发光的闪烁的相位差为0rad时的所述第1荧光检测装置的信号输出的噪声，V¹₀是所述第2荧光检测装置未工作的情况下的所述第1荧光检测装置的信号输出，k＝20。

3.如权利要求2所述的反应处理装置，其特征在于，

k＝100/3。

4.如权利要求2所述的反应处理装置，其特征在于，

k＝100。

5.如权利要求1至4的任意一项所述的反应处理装置，其特征在于，

所述第1荧光检测装置具备照射所述第1激发光并接收所述第1荧光的第1光学头；

所述第2荧光检测装置具备照射所述第2激发光并接收所述第2荧光的第2光学头；

在所述第1光学头及所述第2光学头的数值孔径处于0.07～0.23的范围内的情况下，所述第1荧光检测区域的中心与所述第2荧光检测区域的中心之间的距离被设定为4mm以上。