[发明专利]研磨用组合物、研磨用组合物的制造方法、研磨方法、及半导体基板的制造方法有效

专利信息
申请号: 201980021268.4 申请日: 2019-02-28
公开(公告)号: CN111902514B 公开(公告)日: 2022-06-10
发明(设计)人: 吉崎幸信;高桥洋平;中田阳平 申请(专利权)人: 福吉米株式会社
主分类号: C09K3/14 分类号: C09K3/14;H01L21/3105;B24B37/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇;李茂家
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 研磨 组合 制造 方法 半导体
【权利要求书】:

1.一种研磨用组合物,其是用于对包含(a)具有硅-氮键的材料和(b)其他材料的研磨对象物进行研磨的研磨用组合物,

所述研磨用组合物包含:

有机酸固定二氧化硅、

分散介质、

使所述(a)材料的研磨速度相对于所述(b)材料的研磨速度的比提高的选择比提高剂、和

酸,

所述研磨用组合物不包含氧化剂,所述研磨用组合物的pH为4以下,

所述选择比提高剂为具有亲水性基团的有机聚硅氧烷,所述亲水性基团为聚氧亚烷基,所述选择比提高剂的分子量为200以上且100000以下,所述选择比提高剂的含量为0.0001质量%以上且0.05质量%以下。

2.根据权利要求1所述的研磨用组合物,其中,所述有机酸固定二氧化硅的含量为0.01质量%以上且5质量%以下。

3.根据权利要求1或2所述的研磨用组合物,其中,所述有机酸固定二氧化硅为磺酸固定二氧化硅。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的研磨用组合物的制造方法,其中,包括对所述有机酸固定二氧化硅、所述分散介质、所述选择比提高剂、及所述酸进行混合的工序。

5.一种研磨方法,其包括使用权利要求1~3中任一项所述的研磨用组合物,对包含(a)具有硅-氮键的材料和(b)其他材料的研磨对象物进行研磨的工序。

6.根据权利要求5所述的研磨方法,其是使(a)具有硅-氮键的材料的研磨速度相对于(b)氧化硅的研磨速度的选择比提高的方法,

其包括使用权利要求1~3中任一项所述的研磨用组合物研磨所述(a)具有硅-氮键的材料与所述(b)氧化硅的工序。

7.一种半导体基板的制造方法,其具有利用权利要求5所述的研磨方法对包含(a)具有硅-氮键的材料和(b)其他材料的半导体基板进行研磨的工序。

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