[发明专利]接触光子集成电路的光电电路板

权利要求书

1.一种系统(90)，包含：

-光电电路板(300)，其配置成用于接触光子集成电路(901)，

-光学测试装置(801)，其具有光源(802)和扫描装置(803)，其中该光学测试装置(801)配置成驱动该光源(802)和该扫描装置(803)，以发射光束(871、811A)到该光电电路板(300)，

其中，该光电电路板(300)包含：

-至少一个导电体线路(381、385、386、387)，其延伸于该光电电路板(300)的前侧(398)与该光电电路板(300)的后侧(399)之间，该光电电路板(300)配置成接触该光子集成电路(901)的电接口(972、931)，该电接口(972、931)定位为邻近该后侧(399)，以及

-至少一个光束路径(371)，其延伸于该光电电路板(300)的前侧(398)与该光电电路板(300)的后侧(399)之间，该光电电路板(300)配置成接触该光子集成电路(901)的光学接口(971、921、922)，该光学接口(971、921、922)定位为邻近该后侧(399)。

2.如权利要求1所述的系统(90)，

其中该光学测试装置(801)配置成驱动该扫描装置(803)，以相对于该光电电路板(300)的前侧(398)上的多个光学耦合点(370)定位该光束(871)。

3.如权利要求1或2所述的系统(90)，

其中该光学测试装置(801)配置成驱动该扫描装置(803)，以将该光束(871)定位于该光电电路板(300)的前侧(398)上的光学耦合点(370)内。

4.如权利要求3所述的系统(90)，

其中该光学测试装置(801)配置成驱动该扫描装置(803)，以使用搜寻图案将该光束(871)定位于该光学耦合点(370)内。

5.如前述权利要求中任一项所述的系统(90)，

其中该光电电路板(300)的至少一个光束路径(371)的孔径(370A)的尺寸大于该光束(871)的横截面(871A)。

6.如前述权利要求中任一项所述的系统(90)，其中该扫描装置(803)更包含：

-一个或多个可移动扫描仪和/或空间光调制器。

7.如前述权利要求中任一项所述的系统(90)，其中，该光电电路板(300)更包含：

-透镜(321)，和/或

-偏转元件，

其中，该透镜(321)和/或该偏转元件设置于该至少一个光束路径(371)中。

8.如权利要求7所述的系统(90)，

其中，该光电电路板(300)具有层结构(330)，

其中，该透镜(321)和/或该偏转元件嵌入该层结构(330)中。

9.如权利要求7或8所述的系统(90)，

其中，该光电电路板(300)具有层结构(330)，

其中，该透镜(321)和/或该偏转元件安装于该层结构(330)的外表面上，并延伸离开该层结构(330)。

10.如前述权利要求中任一项所述的系统(90)，

其中，该光电电路板(300)具有层结构(330)，该层结构具有至少一个金属层(331、332)且具有至少一个光学透明层(335)，

其中，该至少一个光学透明层(335)形成设置于该至少一个光束路径(371)中的波导(925)。

11.如前述权利要求中任一项所述的系统(90)，

其中，该光电电路板(300)具有层结构(330)，该层结构具有至少一个金属层(331、332)且具有至少一个光学透明层(335)，

其中，该光电电路板(300)更包含：

-该至少一个金属层(331、332)的切口，其中该切口设置于该至少一个光束路径(371)中。