[发明专利]磁记录介质用溅射靶有效
申请号: | 201980030501.5 | 申请日: | 2019-07-25 |
公开(公告)号: | CN112106134B | 公开(公告)日: | 2022-05-03 |
发明(设计)人: | 镰田知成;栉引了辅;金光谭;齐藤伸 | 申请(专利权)人: | 田中贵金属工业株式会社;国立大学法人东北大学 |
主分类号: | G11B5/851 | 分类号: | G11B5/851;C23C14/34;G11B5/64;H01F1/047;H01F41/18 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 盛曼;金龙河 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 记录 介质 溅射 | ||
1.一种磁记录介质用溅射靶,其包含由选自Cu和Ni中的至少一种以上、Pt、作为余量的Co和不可避免的杂质构成的金属相以及至少含有B2O3的氧化物相,
相对于所述磁记录介质用溅射靶的金属相成分的合计,含有1摩尔%以上且30摩尔%以下的Pt、0.5摩尔%以上且15摩尔%以下的选自Cu和Ni中的至少一种以上,
相对于所述磁记录介质用溅射靶整体,含有25体积%以上且40体积%以下的所述氧化物相。
2.如权利要求1所述的磁记录介质用溅射靶,其特征在于,所述氧化物相还含有选自TiO2、SiO2、Ta2O5、Cr2O3、Al2O3、Nb2O5、MnO、Mn3O4、CoO、Co3O4、NiO、ZnO、Y2O3、MoO2、WO3、La2O3、CeO2、Nd2O3、Sm2O3、Eu2O3、Gd2O3、Yb2O3、Lu2O3和ZrO2中的一种以上氧化物。
3.一种磁记录介质用溅射靶,其包含由选自Cu和Ni中的至少一种以上、选自Cr、Ru和B中的至少一种以上、Pt、作为余量的Co和不可避免的杂质构成的金属相以及至少含有B2O3的氧化物相。
4.如权利要求3所述的磁记录介质用溅射靶,其特征在于,
相对于所述磁记录介质用溅射靶的金属相成分的合计,含有1摩尔%以上且30摩尔%以下的Pt、0.5摩尔%以上且15摩尔%以下的选自Cu和Ni中的至少一种以上、大于0.5摩尔%且30摩尔%以下的选自Cr、Ru和B中的至少一种以上,
相对于所述磁记录介质用溅射靶整体,含有25体积%以上且40体积%以下的所述氧化物相。
5.如权利要求3所述的磁记录介质用溅射靶,其特征在于,所述氧化物相还含有选自TiO2、SiO2、Ta2O5、Cr2O3、Al2O3、Nb2O5、MnO、Mn3O4、CoO、Co3O4、NiO、ZnO、Y2O3、MoO2、WO3、La2O3、CeO2、Nd2O3、Sm2O3、Eu2O3、Gd2O3、Yb2O3、Lu2O3和ZrO2中的一种以上氧化物。
6.如权利要求4所述的磁记录介质用溅射靶,其特征在于,所述氧化物相还含有选自TiO2、SiO2、Ta2O5、Cr2O3、Al2O3、Nb2O5、MnO、Mn3O4、CoO、Co3O4、NiO、ZnO、Y2O3、MoO2、WO3、La2O3、CeO2、Nd2O3、Sm2O3、Eu2O3、Gd2O3、Yb2O3、Lu2O3和ZrO2中的一种以上氧化物。
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