[发明专利]发光分析装置及其维护方法在审
| 申请号： | 201980043699.0 | 申请日： | 2019-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN112400107A | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | 堀俊之 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N21/67 | 分类号： | G01N21/67 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 发光 分析 装置 及其 维护 方法 | ||
1.一种发光分析装置，通过放电使试样发光，利用聚光透镜使该光聚光并利用检测器进行检测，由此基于将检测强度与化学值的关系建立对应所得到的校准曲线来测定试样的化学值，所述发光分析装置的特征在于，具备：
检测强度获取部，其在进行所述发光分析装置的校准的定时获取所述检测器的检测强度；以及
维护与否判定部，其通过将由所述检测强度获取部获取到的检测强度与基准强度进行比较，来判定是否需要进行所述聚光透镜的维护。
2.根据权利要求1所述的发光分析装置，其特征在于，
基于制作出所述校准曲线时的所述检测器的检测强度来设定所述基准强度。
3.根据权利要求1所述的发光分析装置，其特征在于，
基于变更了在所述发光分析装置的校准中使用的校准用试样时的所述检测器的检测强度来设定所述基准强度。
4.一种发光分析装置的维护方法，所述发光分析装置通过放电使试样发光，利用聚光透镜使该光聚光并利用检测器进行检测，由此基于将检测强度与化学值的关系建立对应所得到的校准曲线来测定试样的化学值，所述发光分析装置的维护方法的特征在于，包括以下步骤：
检测强度获取步骤，在进行所述发光分析装置的校准的定时获取所述检测器的检测强度；
维护与否判定步骤，将通过所述检测强度获取步骤获取到的检测强度与基准强度进行比较，由此判定是否需要进行所述聚光透镜的维护；以及
维护执行步骤，在通过所述维护与否判定步骤判定为需要维护的情况下，进行所述聚光透镜的维护。
5.根据权利要求4所述的发光分析装置的维护方法，其特征在于，
基于制作出所述校准曲线时的所述检测器的检测强度来设定所述基准强度。
6.根据权利要求4所述的发光分析装置的维护方法，其特征在于，
基于变更了在所述发光分析装置的校准中使用的校准用试样时的所述检测器的检测强度来设定所述基准强度。
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