[发明专利]用于确定光学膜的切割位置的方法

权利要求书

1.一种用于确定纵长地延伸的光学膜的切割位置的方法，所述方法用以通过以所述光学膜的长度方向上的一定间隔沿所述光学膜的宽度方向切割所述光学膜来形成多个光学膜片材件，所述方法包括以下步骤：

(a)基于所述光学膜的长度方向，预先获取关于所述光学膜的缺陷位置的信息；

(b)基于所述光学膜的长度方向上的正常切割间距条件和最小切割间距条件、以及关于所述光学膜的缺陷位置的信息，将所述光学膜的整个区域划分为用于导出多个所述切割位置的多个大计算区域；以及

(c)从所述多个大计算区域中的在所述光学膜的长度方向上所述切割位置均未确定的区域确定所述切割位置，

其中步骤(b)包括以下步骤：

(b-1)在第一设定位置和缺陷中的任一者和与所述任一者相邻的缺陷之间的确定目标区域中，将包含至少一个正常切割间距的正常区域设定为用于导出所述切割位置的第一小计算区域，在第一设定位置和缺陷中的任一者和与所述任一者相邻的缺陷之间的确定目标区域中，将不包含正常切割区域的包括所有连续缺陷区域的区域设定为用于导出所述切割位置的第二小计算区域；以及

(b-2)计算在通过步骤(b-1)设定的所述小计算区域中包含最多的所述正常切割间距的正常切割的最大量；以及

(b-3)对于包括任一小计算区域的随后的小计算区域，将包括直至所述第一小计算区域在内的区域分为大计算区域，其中通过从所述小计算区域的长度中减去所述正常切割间距和正常切割的最大量的乘积而获得的剩余部分，即小计算区域剩余部分，小于所述最小切割间距。

2.根据权利要求1所述的方法，其中

确定所述切割位置使得所述切割位置与所述缺陷保持等于或大于预定的最小间隔间距的间距，以及

步骤(b-2)中的所述正常切割的最大量为通过将通过从所述小计算区域的长度中减去所述最小间隔间距的两倍而获得的值除以所述正常切割间距而计算的整数部分。

3.根据权利要求1所述的方法，其中步骤(c)包括：以其中所述小计算区域剩余部分较小的顺序，从所述大计算区域中的多个小计算区域中选择所述小计算区域，以及确定选择的小计算区域中的所述切割位置。

4.根据权利要求3所述的方法，其中步骤(c)包括步骤(c-1)，在所述光学膜的长度方向上，基于所述选择的小计算区域、在先的小计算区域和所述随后的小计算区域中每一者的小计算区域剩余部分以及所述最小切割间距，确定所述选择的小计算区域中的所述切割位置。

5.根据权利要求4所述的方法，其中步骤(c)包括步骤(c-2)，如果在所述光学膜的长度方向上已经确定了所述选择的小计算区域之前的小计算区域中的切割位置，则用在先的小计算区域剩余部分代替以下值，所述值通过从所述在先的小计算区域的小计算区域剩余部分中减去存在于所述选择的小计算区域和所述在先的小计算区域之间的缺陷与所述在先的小计算区域中的最终切割位置之间的间距而获得，以及

步骤(c-1)在步骤(c-2)之后进行。

6.根据权利要求4所述的方法，其中步骤(c)包括步骤(c-3)，如果在所述光学膜的长度方向上已经确定了所述选择的小计算区域之后的小计算区域中的切割位置，则用随后的小计算区域剩余部分代替以下值，所述值通过从所述随后的小计算区域的所述小计算区域剩余部分中减去存在于所述选择的小计算区域和所述随后的小计算区域之间的缺陷与所述随后的小计算区域中的第一切割位置之间的间距而获得，以及

步骤(c-1)在步骤(c-3)之后进行。

7.根据权利要求1所述的方法，其中在步骤(c)中确定所述切割位置使得彼此相邻的所述切割位置之间的间距不超过预定的最大切割间距，以及

所述最大切割间距与所述正常切割间距相同。