[发明专利]传感器系统的检查装置及检查方法在审

专利信息
申请号: 201980047948.3 申请日: 2019-07-11
公开(公告)号: CN112437880A 公开(公告)日: 2021-03-02
发明(设计)人: 渡边重之;绵野裕一;冈村俊亮 申请(专利权)人: 株式会社小糸制作所
主分类号: G01N21/958 分类号: G01N21/958;G01M11/00;G01S7/497
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 丁紫玉
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 传感器 系统 检查 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种检查装置,其是传感器系统的检查装置,所述传感器系统具备射出检测光的发光元件、允许该检测光穿过的透光罩、以及使该检测光的射出方向至少在第一方向上变化的扫描机构,其中,所述检查装置具备:

受光装置,其具备至少沿着所述第一方向排列的多个检查受光元件,且配置于穿过所述透光罩的所述检测光的光路上;

处理器,其基于多个所述检查受光元件各自是否正常接收到所述检测光,输出表示所述透光罩有无异常的判定结果。

2.如权利要求1所述的检查装置,其中,

所述处理器基于所述检测光的射出方向与所述受光装置中的该检测光的受光位置的关系,输出表示所述透光罩有无异常的判定结果。

3.如权利要求2所述的检查装置,其中,

在朝向多个所述检查受光元件中的一个射出的所述检测光未被任一检查受光元件接收的情况下,所述处理器在变更了受光装置的位置后,使所述发光元件朝向多个所述检查受光元件中的一个的初始位置再次射出所述检测光。

4.如权利要求2或3所述的检查装置,其中,

在所述判定结果表示所述透光罩存在异常的情况下,所述处理器输出用于修正所述传感器系统的检测结果的数据。

5.如权利要求1~4中任一项所述的检查装置,其中,

多个所述检查受光元件呈二维排列。

6.一种检查方法,其是传感器系统的检查方法,所述传感器系统具备射出检测光的发光元件、允许该检测光穿过的透光罩、以及使该检测光的射出方向至少在第一方向上变化的扫描机构,其中,所述检查方法包括:

将具备至少沿着所述第一方向排列的多个检查受光元件的受光装置配置于穿过所述透光罩的所述检测光的光路上的步骤;

使所述发光元件射出所述检测光的步骤;

使所述扫描机构至少在所述第一方向上扫描所述检测光的步骤;

基于多个所述检查受光元件各自是否正常接收到所述检测光,输出表示所述透光罩有无异常的判定结果的步骤。

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