[发明专利]传感器系统的检查装置及检查方法在审

专利信息
申请号: 201980047948.3 申请日: 2019-07-11
公开(公告)号: CN112437880A 公开(公告)日: 2021-03-02
发明(设计)人: 渡边重之;绵野裕一;冈村俊亮 申请(专利权)人: 株式会社小糸制作所
主分类号: G01N21/958 分类号: G01N21/958;G01M11/00;G01S7/497
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 丁紫玉
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 传感器 系统 检查 装置 方法
【说明书】:

一种传感器系统(100),具备射出检测光(L1)的发光元件、允许检测光(L1)穿过的透光罩(120)、以及使检测光(L1)的射出方向至少在第一方向(D1)上变化的扫描机构。受光装置(210)具备沿着第一方向(D1)排列的多个检查受光元件(211a~211g)。受光装置(210)配置于穿过透光罩(120)的检测光(L1)的光路上。检查处理器(220)基于多个检查受光元件(211a~211g)各自是否正常接收到检测光(L1),输出表示透光罩(120)有无异常的判定结果(R)。

技术领域

本公开涉及一种传感器系统的检查装置及检查方法。

背景技术

专利文献1公开了一种搭载于车辆的传感器系统。该传感器系统使用LiDAR(LightDetecting and Ranging,激光探测与测距)传感器。LiDAR传感器具备发光元件和受光元件。发光元件朝向车辆的外部射出检测光。检测光被位于车辆外部的物体反射,作为反射光入射到受光元件。例如,可以基于检测光从发光元件射出后至反射光入射到受光元件的时间,检测距产生该反射光的物体的距离。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本国专利申请公开第2018-049014号公报

发明内容

发明所要解决的问题

发光元件和受光元件由透光罩覆盖。因此,检测光和反射光穿过透光罩。例如,在透光罩的一部分受损的情况或发生变形的情况下,穿过该部分的检测光发生异常折射,可能脱离原本的行进方向。在该情况下,不能检测位于原本的行进方向上的物体的信息,传感器系统的信息检测精度降低。

因此,要求在从发光元件射出的检测光穿过的透光罩发生异常时,抑制传感器系统的信息检测精度的降低。

用于解决问题的技术方案

用于对应上述要求的一方式提供一种检查装置,该检查装置是传感器系统的检查装置,所述传感器系统具备射出检测光的发光元件、允许该检测光穿过的透光罩、以及使该检测光的射出方向至少在第一方向上变化的扫描机构,其中,所述检查装置具备:

受光装置,其具备至少沿着所述第一方向排列的多个检查受光元件,且配置于穿过所述透光罩的所述检测光的光路上;

处理器,其基于所述多个检查受光元件各自是否正常接收到所述检测光,输出表示所述透光罩有无异常的判定结果。

用于对应上述要求的一方式提供一种检查方法,该检查方法是传感器系统的检查方法,所述传感器系统具备射出检测光的发光元件、允许该检测光穿过的透光罩、以及使该检测光的射出方向至少在第一方向上变化的扫描机构,其中,所述检查方法包括:

将具备至少沿着所述第一方向排列的多个检查受光元件的受光装置配置于穿过所述透光罩的所述检测光的光路上的步骤;

使所述发光元件射出所述检测光的步骤;

使所述扫描机构至少在所述第一方向上扫描所述检测光的步骤;

基于所述多个检查受光元件各自是否正常接收到所述检测光,输出表示所述透光罩有无异常的判定结果的步骤。

根据上述检查装置和检查方法,通过将受光装置配置于穿过透光罩的检测光的光路上,使传感器系统执行检测动作这一简单的方法,能够检测透光罩有无异常。在检测到透光罩异常的情况下,可以采取置换或修补等适当的对策。因此,能够抑制传感器系统的信息检测精度的降低。

上述检查装置可以如下构成。

所述处理器基于所述检测光的射出方向和所述受光装置中的该检测光的受光位置的关系,输出表示所述透光罩有无异常的判定结果。

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