[发明专利]光检测系统

说明书

光扫描设备具备：光波导阵列，包括分别使光沿着第1方向传播的多个光波导，上述多个光波导在与上述第1方向交叉的第2方向上排列，射出光束；移相器阵列，包括与上述多个光波导分别连接的多个移相器；控制电路，通过控制上述多个移相器各自的移相量及/或向上述多个移相器各自的光的输入，来控制从上述光波导阵列射出的上述光束的方向及形状；光检测器，检测被对象物反射的上述光束；以及信号处理电路，基于上述光检测器的输出，生成距离分布数据。

技术领域

本发明涉及光检测系统。

背景技术

以往，提出了能够用光扫描(scan)空间的各种设备。

专利文献1及专利文献4公开了能够使用使镜旋转的驱动装置进行基于光的扫描的结构。

专利文献2公开了具有以二维排列的多个纳米光子天线元件的光相控阵列。各个天线元件与可变光延迟线(即移相器)光学上耦合。在该光相控阵列中，相干光束通过光波导被引导至各个天线元件，通过移相器，光束的相位发生移位。由此，能够使远场辐射图的振幅分布变化。

专利文献3公开了一种光偏转元件，具备：光波导，具有光在内部导波的光波导层和形成于光波导层的上表面及下表面的第1分布布拉格反射镜；光入射口，用来使光入射至光波导内；以及光射出口，为了射出从光入射口入射并在光波导内导波的光而形成于光波导的表面。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：国际公开第2013/168266号

专利文献2：日本特表2016－508235号公报

专利文献3：日本特开2013－16591号公报

专利文献4：美国专利申请公开2016/0245903号

发明内容

发明要解决的课题

本发明的另一形态提供一种一边使光束的方向及形状主动地变化一边进行距离测量的光检测系统。

用来解决课题的手段

有关本发明的一形态的光检测系统具备：光波导阵列，包括分别使光沿着第1方向传播的多个光波导，上述多个光波导在与上述第1方向交叉的第2方向上排列，射出光束；移相器阵列，包括与上述多个光波导分别连接的多个移相器；控制电路，通过控制上述多个移相器各自的移相量及/或向上述多个移相器各自的光的输入，来控制从上述光波导阵列射出的上述光束的方向及形状；光检测器，检测被对象物反射的上述光束；以及信号处理电路，基于上述光检测器的输出，生成距离分布数据。

本发明的包含性或具体的形态也可以由设备、系统、方法或它们的任意的组合实现。

发明效果

根据本发明的一技术方案，能够一边使光束的方向及形状主动地变化一边进行距离测量。

附图说明

图1是示意地表示本发明的例示性的实施方式的光扫描设备的结构的立体图。

图2是示意地表示1个光波导元件的截面的构造及传播的光的例子的图。

图3A是表示向垂直于光波导阵列的射出面的方向射出光的光波导阵列的截面的图。

图3B是表示向与垂直于光波导阵列的射出面的方向不同的方向射出光的光波导阵列的截面的图。

图4是示意地表示三维空间中的光波导阵列的立体图。

图5是将光波导阵列及移相器阵列从光射出面的法线方向(Z方向)观察的示意图。

图6A是示意地表示本实施方式的光扫描设备的例子和从光波导阵列射出的光束的方向的例子的图。