[发明专利]激光雷达系统的校准方法及校准装置、介质及测距设备有效
申请号: | 201980050174.X | 申请日: | 2019-11-01 |
公开(公告)号: | CN112585495B | 公开(公告)日: | 2023-08-04 |
发明(设计)人: | 王超 | 申请(专利权)人: | 深圳市速腾聚创科技有限公司 |
主分类号: | G01S7/497 | 分类号: | G01S7/497 |
代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 杨欢 |
地址: | 518000 广东省深圳市南山区留*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 激光雷达 系统 校准 方法 装置 介质 测距 设备 | ||
1.一种激光雷达系统的校准方法,方法步骤如下:
激光雷达系统利用校准盒子依次执行N次测距,第i次测距的出射激光经过(i-1)次延迟线后射向所述校准盒子,得到N个不同距离处的测距值,并根据所述测距值与对应的实际值的差别得到N个校准矩阵;其中N≥1且N为整数,i=1,2,…,N;
获取测量值的所述校准矩阵,对所述测量值进行校准补偿;其中,所述测量值是所述激光雷达系统在实际应用时进行测距的过程中得到的目标物的测距距离;
当所述测量值M>(N-1)*L+K时,根据所述测量值获取指定测距值,并采用所述指定测距值对应的校准矩阵对所述测量值进行校准补偿;其中,L为所述延迟线对应的距离,K为所述校准盒子的长度距离,所述激光雷达系统设置于所述校准盒子一端,目标物设置于所述校准盒子的另一端;
所述根据所述测量值获取指定测距值,具体为:
所述测量值对应的所述指定测距值的计算式为:X=M%[(N-1)*L+K],X为所述指定测距值。
2.根据权利要求1所述的校准方法,其特征在于,所述得到N个不同距离处的测距值,并根据所述测距值与对应的实际值的差别得到N个校准矩阵,包括:
得到(i-1)*L+K距离处的所述测距值,并根据所述测距值与(i-1)*L+K的差值得到所述校准矩阵。
3.根据权利要求2所述的校准方法,其特征在于,所述方法还包括:
当所述测量值M≤(N-1)*L+K时,采用所述测量值对应的校准矩阵对所述测量值进行校准补偿。
4.根据权利要求3所述的校准方法,其特征在于,所述当所述测量值M≤(N-1)*L+K时,采用所述测量值对应的校准矩阵对所述测量值进行校准补偿,包括:
根据N次测距的所述测距值及对应的所述校准矩阵拟合生成校准曲线;
根据所述校准曲线,获取所述测量值对应的所述校准矩阵;
采用获取的所述校准矩阵对所述测量值进行校准补偿。
5.根据权利要求1所述的校准方法,其特征在于,所述采用所述指定测距值对应的校准矩阵对所述测量值进行校准补偿,包括:
获取所述指定测距值对应的所述校准矩阵;
采用获取的所述校准矩阵对所述测量值进行校准补偿。
6.根据权利要求5所述的校准方法,其特征在于,所述获取所述指定测距值对应的所述校准矩阵,包括:
当所述指定测距值为X=(j-1)*L+K时,所述测距值对应的所述校准矩阵即为所述指定测距值对应的所述校准矩阵;
当所述指定测距值X满足(j-1)*L+K<X<j*L+K时,通过拟合(j-1)*L+K距离处的所述校准矩阵和j*L+K距离处的所述校准矩阵,获取所述指定测距值对应的所述校准矩阵;
其中j=1,2,…,N。
7.根据权利要求2所述的校准方法,其特征在于,所述延迟线对应的距离L等于所述校准盒子的长度距离K。
8.根据权利要求2所述的校准方法,其特征在于,所述目标物的数量为至少1个;当所述目标物的数量大于1个时,所述目标物的反射率不同。
9.根据权利要求2所述的校准方法,其特征在于,还包括:
通过硬件系统控制所述激光雷达系统的出射激光的功率,使所述出射激光的功率随延迟的时间增加而减小。
10.根据权利要求9所述的校准方法,其特征在于,所述出射激光的功率与所述延迟的时间为负二次幂关系。
11.根据权利要求2所述的校准方法,其特征在于,所述获取测量值的所述校准矩阵,对所述测量值进行校准补偿,还包括:
将所述测量值与对应的所述校准矩阵求和,得到校准后的测量值。
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