[发明专利]光谱校正装置及光谱校正方法在审
申请号: | 201980050349.7 | 申请日: | 2019-08-09 |
公开(公告)号: | CN112513619A | 公开(公告)日: | 2021-03-16 |
发明(设计)人: | 川口洋平;乔治·查尔基迪斯;安田知弘 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 范胜杰;曹鑫 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱 校正 装置 方法 | ||
1.一种光谱校正装置,其算出用于颜色变换处理的颜色变换矩阵,其特征在于,包括:
分光信号取得部,其取得随时间而检测到的荧光的分光信号;
候选算出部,其基于所述分光信号,针对依赖于荧光色素的荧光的峰同时出现的频度的参数的每个值,算出颜色变换矩阵的候选;以及
选择部,其基于针对各候选算出的评价值来选择颜色变换矩阵。
2.根据权利要求1所述的光谱校正装置,其特征在于,
所述选择部从颜色变换信号中提取下拉,使用基于所述下拉的代价函数来算出所述评价值,其中,使用针对所述参数的每个值算出的颜色变换矩阵的各候选来算出所述颜色变换信号。
3.根据权利要求1所述的光谱校正装置,其特征在于,
所述选择部对颜色变换信号执行反卷积处理来取得反卷积信号,使用基于所述反卷积信号的代价函数来算出所述评价值,其中,使用针对所述参数的每个值算出的颜色变换矩阵的各候选来算出所述颜色变换信号。
4.根据权利要求1所述的光谱校正装置,其特征在于,
所述选择部对颜色变换信号执行迁移率修正处理来取得迁移率修正信号,使用基于所述迁移率修正信号的代价函数来算出所述评价值,其中,使用针对所述参数的每个值算出的颜色变换矩阵的各候选来算出所述颜色变换信号。
5.一种光谱校正方法,其算出用于颜色变换处理的颜色变换矩阵,其特征在于,包括:
取得步骤,取得随时间而检测到的荧光的分光信号;
候选算出步骤,基于所述分光信号,针对依赖于荧光色素的荧光的峰同时出现的频度的参数的每个值,算出颜色变换矩阵的候选;以及
选择步骤,基于针对各候选算出的评价值来选择颜色变换矩阵。
6.根据权利要求5所述的光谱校正方法,其特征在于,
在所述选择步骤中,从颜色变换信号中提取下拉,使用基于所述下拉的代价函数来算出所述评价值,其中,使用针对所述参数的每个值算出的颜色变换矩阵的各候选来算出所述颜色变换信号。
7.根据权利要求5所述的光谱校正方法,其特征在于,
在所述选择步骤中,对颜色变换信号执行反卷积处理来取得反卷积信号,使用基于所述反卷积信号的代价函数来算出所述评价值,其中,使用针对所述参数的每个值算出的颜色变换矩阵的各候选来算出所述颜色变换信号。
8.根据权利要求5所述的光谱校正方法,其特征在于,
在所述选择步骤中,对颜色变换信号执行迁移率修正处理来取得迁移率修正信号,使用基于所述迁移率修正信号的代价函数来算出所述评价值,其中,使用针对所述参数的每个值算出的颜色变换矩阵的各候选来算出所述颜色变换信号。
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