[发明专利]基板处理系统和基板处理方法在审
申请号: | 201980053516.3 | 申请日: | 2019-07-17 |
公开(公告)号: | CN112602173A | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 児玉宗久 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304;B08B1/04;B24B7/04;B24B41/047;H01L21/677 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 处理 系统 方法 | ||
一种基板处理系统,该基板处理系统包括:第1主表面磨削装置,其以使基板的第1主表面朝上的方式自下方保持所述基板,并且磨削所述基板的所述第1主表面;第1反转装置,其使利用所述第1主表面磨削装置磨削后的所述基板上下反转;以及第2主表面磨削装置,其以使所述基板的第2主表面朝上的方式自下方保持所述基板的磨削后的所述第1主表面,并且磨削所述基板的所述第2主表面。
技术领域
本公开涉及基板处理系统和基板处理方法。
背景技术
专利文献1中记载的加工装置具有盒载置单元、送入送出机器人、临时放置单元、输送机器人、行进单元、磨削单元以及清洗单元。首先,送入送出机器人自盒将加工前的板状工件送出并输送到临时放置单元。然后,输送机器人和行进单元将板状工件依次输送到磨削单元和清洗单元。由此,依次进行粗磨削、精磨削以及清洗。
专利文献1:日本特开2015-207622号公报
发明内容
本公开的一技术方案提供一种能够系统地将基板的两个面磨削得平坦的技术。
本公开的一技术方案涉及一种基板处理系统,其中,
该基板处理系统包括:
第1主表面磨削装置,其以使基板的第1主表面朝上的方式自下方保持所述基板,并且磨削所述基板的所述第1主表面;
第1反转装置,其使利用所述第1主表面磨削装置磨削后的所述基板上下反转;以及
第2主表面磨削装置,其以使所述基板的第2主表面朝上的方式自下方保持所述基板的磨削后的所述第1主表面,并且磨削所述基板的所述第2主表面。
根据本公开的一技术方案,能够系统地将基板的两个面磨削得平坦。
附图说明
图1是表示一实施方式所涉及的基板处理系统的俯视图。
图2是表示一实施方式所涉及的基板处理系统的主视图。
图3是表示一实施方式所涉及的基板处理方法的流程图。
图4是表示平坦化层的形成结束时、第1主表面的磨削结束时、以及基板的反转开始时各时点的基板的状态的一个例子的图。
图5是表示第1主表面的后清洗结束时、平坦化层的磨削开始时以及第2主表面的预清洗结束时各时点的基板的状态的一个例子的图。
图6是表示第2主表面的磨削结束时、第2主表面的后清洗结束时以及第2主表面的蚀刻开始时各时点的基板的状态的一个例子的图。
图7是表示基板的反转开始时、第1主表面的蚀刻开始时以及载体收纳时各时点的基板的状态的一个例子的图。
图8是表示一实施方式所涉及的加工装置的俯视图。
图9是表示从图8的箭头A方向和图8的箭头B观察到的可动部与升降部之间的位置关系的一个例子的图。
图10是表示基板处理系统的第1变形例的俯视图。
图11是表示基板处理系统的第1变形例的主视图。
图12是表示基板处理方法的第1变形例的流程图。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造