[发明专利]X射线装置在审
申请号: | 201980054925.5 | 申请日: | 2019-06-25 |
公开(公告)号: | CN112602381A | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 浦田朋晃 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | H05G1/26 | 分类号: | H05G1/26;A61B6/00;H05G1/34 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 射线 装置 | ||
1.一种X射线装置,其特征在于,具备:
X射线产生部,其具有发射器、靶以及外壳,其中,所述发射器由导电体构成,用于发射电子,所述靶由于从所述发射器发射出的电子与所述靶碰撞而产生X射线,所述外壳用于收纳所述发射器和所述靶;
消耗程度检测部,其检测所述发射器的消耗程度;
存储部,其存储所述发射器的消耗程度与构成所述发射器的导电体附着于所述外壳的附着量的关系;以及
附着量估计部,其基于所述发射器的消耗程度、以及存储在所述存储部中的所述发射器的消耗程度与构成所述发射器的导电体附着于所述外壳的附着量的关系,来估计构成所述发射器的导电体附着于所述外壳的附着量。
2.根据权利要求1所述的X射线装置,其特征在于,
所述消耗程度检测部根据对所述发射器施加的电压、电流或通电时间来检测所述发射器的消耗程度。
3.根据权利要求1所述的X射线装置,其特征在于,
还具备温度传感器,
所述附着量估计部利用由所述温度传感器检测出的所述X射线产生部的温度或所述X射线产生部内的绝缘油的温度,来估计构成所述发射器的导电体附着于所述外壳的附着量。
4.根据权利要求1所述的X射线装置,其特征在于,
还具备姿势传感器,所述姿势传感器检测所述X射线产生部的姿势,
所述附着量估计部利用由所述姿势传感器检测出的所述X射线产生部的姿势,来估计构成所述发射器的导电体附着于所述外壳的附着量。
5.根据权利要求1所述的X射线装置,其特征在于,
所述存储部还存储构成所述发射器的导电体附着于所述外壳的附着量与发生针对所述外壳的沿面放电的概率的关系,
所述X射线装置还具备沿面放电估计部,所述沿面放电估计部基于所述发射器的消耗程度、存储在所述存储部中的所述发射器的消耗程度与构成所述发射器的导电体附着于所述外壳的附着量的关系、以及存储在所述存储部中的构成所述发射器的导电体附着于所述外壳的附着量与针对所述外壳的沿面放电的概率的关系,来估计发生沿面放电的概率。
6.根据权利要求5所述的X射线装置,其特征在于,
在由所述沿面放电估计部估计出的发生沿面放电的概率超过了预先设定的设定值时,执行警告显示。
7.根据权利要求1所述的X射线装置,其特征在于,
所述存储部还存储构成所述发射器的导电体附着于所述外壳的附着量与穿过所述外壳的X射线的透过率的关系、或者构成所述发射器的导电体附着于所述外壳的附着量与穿过所述外壳的X射线的谱的关系,
所述X射线装置还具备图像处理部,所述图像处理部基于构成所述发射器的导电体附着于所述外壳的附着量、以及存储在所述存储部中的构成所述发射器的导电体附着于所述外壳的附着量与穿过所述外壳的X射线的透过率的关系,或者基于构成所述发射器的导电体附着于所述外壳的附着量、以及存储在所述存储部中的构成所述发射器的导电体附着于所述外壳的附着量与穿过所述外壳的X射线的谱的关系,来变更显示部中显示的X射线图像的图像处理条件。
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