[发明专利]集成式前置放大光检测系统及其使用方法在审

专利信息
申请号: 201980057156.4 申请日: 2019-05-24
公开(公告)号: CN112771365A 公开(公告)日: 2021-05-07
发明(设计)人: 吴家驹 申请(专利权)人: 贝克顿·迪金森公司
主分类号: G01N15/14 分类号: G01N15/14
代理公司: 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 代理人: 许伟群;郭放
地址: 美国新*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 集成 前置 放大 检测 系统 及其 使用方法
【权利要求书】:

1.一种光检测系统,其包含:

光电检测器;

被配置成调制进入所述光电检测器的信号输入的输入调制器;以及

被配置成调制来自所述光电检测器的信号输出的输出调制器。

2.根据权利要求1所述的光检测系统,其中所述输入调制器被配置成使进入所述光电检测器的所述信号输入的所述电流和所述电压中的一项或更多项增加/升高。

3.根据权利要求1-2中任一项所述的光检测系统,其中所述输出调制器被配置成使来自所述光电检测器的所述信号输出的所述电流和所述电压中的一项或更多项增加/升高。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的光检测系统,其进一步包含基板,其中所述光电检测器、所述输入调制器和所述输出调制器均位于所述基板表面。

5.根据权利要求4所述的光检测系统,其中所述基板是印刷电路板。

6.根据权利要求4-5中任一项所述的光检测系统,其中所述输入调制器和所述输出调制器中的一项或更多个项与所述光电检测器相距5cm或更近。

7.根据权利要求4-6中任一项所述的光检测系统,进一步包含位于所述基板表面的高压电源。

8.一种包含多个光检测器的光电检测器阵列,所述多个光检测器中的每个均包含:

光电检测器;

被配置成调制进入所述光电检测器的信号输入的输入调制器;以及

被配置成调制来自所述光电检测器的信号输出的输出调制器。

9.根据权利要求25所述的光电检测器阵列,其中所述多个光检测器被配置成具有以下各项中的一项或更多项:

基本相同的光敏性;

基本相同的动态范围;

基本相同的信噪比;

基本相同的检测器量子效率。

10.根据权利要求8-9中任一项所述的光电检测器阵列,其中所述多个光检测器被配置成具有十边形构型。

11.一种使来自第一光电检测器和第二光电检测器的输出信号相匹配的方法,所述方法包含:

用所述第一光电检测器对来自样品的光进行检测;

用所述第二光电检测器对来自所述样品的光进行检测;以及

调制以下各项中的一项或更多项:进入所述第一光电检测器的输入信号;进入所述第二光电检测器的输入信号;来自所述第一光电检测器的所述输出信号;以及来自所述第二光电检测器的所述输出信号,以使来自所述第一光电检测器和所述第二光电检测器的所述输出信号相匹配。

12.根据权利要求11所述的方法,其中来自所述第一光电检测器和所述第二光电检测器的所述输出信号是光子计数或电压。

13.根据权利要求11-12中任一项所述的方法,其中使来自所述第一光电检测器和所述第二光电检测器的输出信号相匹配包含使来自所述第一光电检测器和所述第二光电检测器的输出信号具有基本相同的信噪比。

14.一种流式细胞仪,其包含:

用于辐照流体介质中的样品的光源;以及

光检测系统,其包含:

光电检测器;

被配置成调制进入所述光电检测器的信号输入的输入调制器;以及

被配置成调制来自所述光电检测器的信号输出的输出调制器。

15.一种套件,其包含:

第一和第二光检测系统,各自包含:

光电检测器;

被配置成调制进入所述光电检测器的信号输入的输入调制器;以及

被配置成调制来自所述光电检测器的信号输出的输出调制器。

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