[发明专利]集成式前置放大光检测系统及其使用方法

说明书

本发明描述了用于对光进行检测的系统(例如，在流体介质中)。根据实施例的光检测系统包括光电检测器、被配置成调制进入所述光电检测器的信号输入的输入调制器以及被配置成调制来自所述光电检测器的信号输出的输出调制器。本发明还提供了具有多个光检测系统(例如，如上所述)的光电检测器阵列。本发明还描述了用于使来自两个或更多个光电检测器(例如，光电检测器阵列中的多个光电倍增管)的输出信号相匹配的方法。本发明提供了用于对来自流体介质中的样品的光进行检测的流式细胞仪系统和方法。方面进一步包括具有两个或更多个标的光检测系统的套件。

相关申请的交叉引用

根据《美国法典》第35章第119节(e)的规定，本专利申请案主张于2018年6月28日提交的编号为62/691,570的美国临时专利申请案提交日期的优先权；该专利中的内容以引用方式并入本文中。

介绍

光检测通常用于表征样品(例如，生物样品)组分，例如，在样品用于疾病或病症诊断时。辐照样品时，样品可以散射、透射及发射(例如，以荧光形式)光。样品组分(例如，形态、吸收率和荧光标记的存在)的变化可能导致样品散射、透射或发射的光发生变化。这些变化可用于表征及识别样品中组分的存在。为了量化这些变化，收集光并将其引导至检测器表面。荧光团含量的确定程度通常部分受到含有多个荧光团的样品的荧光光谱和所述发射光之间的光谱重叠情况的限制。

利用光检测来表征样品中的组分的技术被称为流式细胞术。利用依据检测到的光生成的数据，可以记录组分的分布，且可以对所需材料进行分类。来自光源的光可以基于散射或透射光谱进行检测，或者可以被样品中的一种或更多种组分吸收，并以冷光形式重新发射。材料(例如，形态或荧光标记)的变化会导致观察到的光发生变化，这些变化允许通过将光收集到光学检测器上进行表征。

发明内容

本发明描述了用于对光进行检测的系统(例如，在流体介质中)。根据实施例的光检测系统包括光电检测器、被配置成调制进入所述光电检测器的信号输入的输入调制器以及被配置成调制来自所述光电检测器的信号输出的输出调制器。本发明还提供了具有多个光检测系统(例如，如上所述)的光电检测器阵列。本发明还描述了用于使来自两个或更多个光电检测器(例如，光电检测器阵列中的多个光电倍增管)的输出信号相匹配的方法。本发明提供了用于对来自流体介质中的样品的光进行检测的流式细胞仪系统和方法。方面进一步包括具有两个或更多个标的光检测系统的套件。

在实施例中，光检测系统包括光电检测器、被配置成调制进入所述光电检测器的信号输入的输入调制器以及被配置成调制来自所述光电检测器的信号输出的输出调制器。在一些实施例中，所述光电检测器是光电倍增管。在其他实施例中，所述光电检测器是光电二极管，例如雪崩光电二极管。在某些实施例中，所述光电检测器是光电检测器的组合，例如混合光电倍增器—光电二极管光电检测器。例如，所述光电检测器可以包括光电倍增器组件和光电二极管组件。在某些情况下，所述光电检测器是光电阴极和雪崩光电二极管的组合。在一些实施例中，所述光电检测器包括一个或更多个集成光学调节组件，例如二向色镜或准直透镜。

光检测系统包括调制进入所述光电检测器的所述信号输入的输入调制器。在一些实施例中，所述输入调制器被配置成调节进入所述光电检测器的所述电流。在一些情况下，所述输入调制器使进入所述光电检测器的所述电流增加。在其他情况下，所述输入调制器使进入所述光电检测器的所述电流减少。在其他实施例中，所述输入调制器被配置成调节进入所述光电检测器的所述电压。在一些情况下，所述输入调制器使进入所述光电检测器的所述电压升高。在其他情况下，所述输入调制器使进入所述光电检测器的所述电压降低。在某些实施例中，所述输入调制器包括一个或更多个放大器，例如跨阻放大器。在其他实施例中，所述输入调制器包括电阻器阵列。在其他实施例中，所述输入调制器包括由电阻器和电容器组成的阵列。