[发明专利]用于测量气流的流速的方法和设备

权利要求书

1.一种用于测量气流(14)的流速(v)的方法，其特征在于以下步骤：

(a)时间分辨地在所述气流(14)之外的第一测量点(P1)处测量所述气流(14)的IR辐射的IR辐射参数(E)，从而获得第一IR辐射参数曲线(E_g1,1(t))，

(b)时间分辨地在所述气流(14)之外的第二测量点(P2)处测量IR辐射参数(E)，从而获得第二IR辐射参数曲线(E_g1,2(t))，

(c)从所述第一IR辐射参数曲线(E_g1,1(t))和所述第二IR辐射参数曲线(E_g1,2(t))计算渡越时间(τ1)，尤其是借助于交叉关联，以及

(d)从所述渡越时间(τ1)计算所述流速(vG)，

(e)其中在波长(λ_g1)为至少780nm的情况下以光电导的方式测量所述IR辐射参数(E_g1)，以及

(f)测量频率(f)至少为1千赫兹。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

(i)所述气流(14)是包含第一气体(g1)和至少一种第二气体(g2)的气体混合物的流，

(ii)所述第一气体(g1)具有第一气体激发波长(λ_g1)，并且

(iii)所述IR辐射参数(E)是在所述第一气体激发波长(λ_g1)下的辐照强度(E_g1)。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

(i)所述第二气体(g2)具有第二气体激发波长(λ_g2)，并且

(ii)所述方法具有以下步骤：

(a)在所述第一测量点(P1)处时间分辨地检测在所述第二气体激发波长(λ_g2)下的辐照强度形式的第二IR辐射参数(E_g2)，从而获得第一辐照强度曲线(E_g2,1(t))，

(b)在所述第二测量点(P2)处时间分辨地检测所述第二IR辐射参数(E_g2)，从而获得第二辐照曲线(E_g2,2(t))，

(c)计算所述辐照强度曲线(E_g2,1(t)E_g2,2(t))之间的第二渡越时间(τ2)，尤其是借助于交叉关联，以及

(d)从所述第一渡越时间(τ1)和所述第二渡越时间(τ2)计算所述流速(vG)。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，设有以下步骤：

滤除所述气流(14)的如下IR辐射，所述IR辐射不位于所述第一气体激发波长(λ_g1)周围0.3μm的预设的第一测量区间(M_g1)之内，或者

不位于所述第二气体激发波长(λ_g2)周围0.3μm的第二测量区间(M_g2)之内。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述IR辐射参数(E_g1)在至多15μm的波长(λ_g1)下测量。

6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述气流(14)的温度(T)为至少200℃，特别是至少1000℃。