[发明专利]用于测量气流的流速的方法和设备在审

专利信息
申请号: 201980059202.4 申请日: 2019-09-24
公开(公告)号: CN112739991A 公开(公告)日: 2021-04-30
发明(设计)人: 汉斯格奥尔格·康拉兹 申请(专利权)人: 普美康过程测量控制有限公司
主分类号: G01F1/704 分类号: G01F1/704;G01F1/708
代理公司: 南京苏创专利代理事务所(普通合伙) 32273 代理人: 常晓慧
地址: 德国巴*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 气流 流速 方法 设备
【说明书】:

发明涉及一种用于测量气流(14)的流速(v)的方法,其具有以下步骤:(a)时间分辨地在气流(14)之外的第一测量点(P1)处测量气流(14)的IR辐射的IR辐射参数(E),从而获得第一IR辐射参数曲线(Eg1,1(t)),(b)时间分辨地在气流(14)之外的第二测量点(P2)处测量IR辐射参数(E),从而获得第二IR辐射参数曲线(Eg1,2(t)),(c)从第一IR辐射参数曲线(Eg1,1(t))和第二IR辐射参数曲线(Eg1,2(t))中计算渡越时间(τ1),尤其是借助于交叉关联,以及(d)从渡越时间(τ1)中计算流速(vG),(e)其中在波长(g1)为至少780nm的情况下以光电导的方式测量IR辐射参数(Eg1),以及(f)测量频率(f)至少为1千赫兹。

技术领域

本发明涉及一种用于测量气流的流速的方法。根据第二方面,本发明涉及一种用于测量气流的流速的设备,该设备具有:(a)第一IR辐射传感器,用于时间分辨地测量气流的IR辐射的第一IR辐射参数,以获得第一IR辐射参数曲线,(b)第二IR辐射传感器,用于测量气流的IR辐射的第二IR辐射参数,以获得第二IR辐射参数曲线,和(c)评估单元,所述评估单元设计为用于自动地计算第一IR辐射参数曲线和第二IR辐射参数曲线之间的渡越时间,尤其是借助于交叉关联,以及从渡越时间中计算流速。

背景技术

气体的流速必须在许多点处进行测量。如果气体非常热和/或是腐蚀性的,则该测量任务特别具有挑战性。在高温下,例如高于1000℃,必须使用耐高温的材料,这是昂贵的。腐蚀性气体导致损耗增加。如果气流例如携带固体颗粒、例如灰分颗粒、煤颗粒、炉渣颗粒或水泥颗粒,则会导致所使用的测量仪器明显磨损损耗。如果气体例如包含氧化成分,则还会造成化学损耗。尽管可能存在不利的环境条件,但仍期望高的测量精度,因为这改进了测量流速的工程设施的可调节性。

已知的是:在相互间隔开的点处测量气流中的温度波动,并借助于交叉关联确定两个温度曲线的时间偏移。气流的流速可以从时间偏移和两个测量点的间距确定。

用于测量流速的这种方法的缺点是难达到高精度。

从DE 699 21 009 T2中已知一种专门用于天然气管线的光学流量计,其中测量了颗粒处的散射光。如果颗粒浓度太小,则添加另外的颗粒。

从DE 3827913A1中已知一种用于确定流动速度的方法和设备,其中在颗粒处执行散射光测量。相应的测量位置彼此隔开。通过对测量结果进行关联计算来获得速度。

从US 9,157,778 B2中已知一种用于测量气体流量的方法,其中,在相互间隔开的两个测量位置处测量辐射的吸收。通过确定扰动的渡越时间来计算流速。该扰动例如可以通过气体的引进来引起。

发明内容

本发明的目的是改进对气流的流速的测量。

本发明通过一种方法解决了该问题,该方法具有以下步骤:(a)时间分辨地在气流之外的第一测量点处测量气流的IR辐射的IR辐射参数,从而获得第一IR辐射参数曲线,(b)时间分辨地在管线之外的第二测量点处测量IR辐射参数,从而获得第二IR辐射参数曲线,(c)从第一IR辐射参数曲线和第二IR辐射参数曲线中计算渡越时间,尤其是借助于交叉关联,以及(d)从渡越时间中计算流速,其中(e)在波长为至少780nm、尤其1.5μm的情况下以光电导的方式测量IR辐射参数。

根据第二方面,本发明通过一种设备解决了该问题,其中IR辐射传感器是光电IR辐射传感器,并且具有如下测量范围,所述测量范围的下限波长为至少0.78μm并且具有至少1千赫兹的测量频率。

本发明的优点是可以以更高的精度来测量流速。原因在于IR辐射参数的绝对光电测量是可行的;例如,借助于高温测量,通常仅当发射系数恒定时才是可行的,而发射系数恒定通常无法保证。

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