[发明专利]用于去涂层器的冷却系统和方法有效

专利信息
申请号: 201980059503.7 申请日: 2019-09-12
公开(公告)号: CN112703358B 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: J·Y·孙;E·L·劳赫 申请(专利权)人: 诺维尔里斯公司
主分类号: F27D9/00 分类号: F27D9/00;F27D21/00;F23G5/16;F27B7/34;F27B7/38
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 郭帆扬;杨忠
地址: 美国乔*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 涂层 冷却系统 方法
【说明书】:

一种用于去涂层系统的冷却系统包括传感器、控制装置以及与传感器和控制装置通信地耦合的控制器。传感器被配置为测量去涂层系统中的冷却系统的特性,控制装置控制冷却系统的特性,并且控制器被配置为基于去涂层系统内的测量的温度或测量的特性中的至少一者来调节控制装置以调节冷却系统的特性。一种控制去涂层系统的温度的方法包括测量去涂层系统的一件设备内的温度以及测量去涂层系统的该件设备中的冷却系统的特性。该方法包括基于测量的温度或测量的特性中的至少一者来控制冷却系统以调节特性。

相关申请的参考

本申请要求2018年9月12日提交的标题为“COOLING SYSTEM AND METHOD FORDECOATERS”的美国临时申请号62/730,049的权益,其内容通过引用整体并入本文。

技术领域

本申请涉及用于金属回收的去涂层系统,并且更具体地涉及用于去涂层系统的冷却系统和方法。

背景技术

在金属回收期间,金属废料(诸如铝或铝合金)被压碎、撕碎、切碎或以其他方式减小为金属废料的较小块。通常,金属废料具有各种涂层诸如油、油漆、漆、塑料、油墨和胶,以及各种其他有机污染物诸如纸、塑料袋、聚对苯二甲酸乙二醇酯、糖残余物等,在金属废料可进一步加工和回收之前必须通过去涂层工艺去除这些涂层。在去涂层过程期间,金属废料被送入去涂层器或窑(kiln)中,然后被加热以从金属废料中去除涂层。有时,来自涂层的有机化合物使去涂层器内部的温度升高,这可能导致铝热反应(thermitting)(去涂层器内部的金属燃烧)或对去涂层系统的设备造成其他严重损害。

发明内容

在本专利中使用的术语“发明”、“该发明”、“此发明”和“本发明”旨在广泛地指本专利和下面的专利权利要求的所有主题。包含这些术语的陈述不应被理解为限制本文所述的主题或限制下面的专利权利要求的含义或范围。本专利所覆盖的此发明的实施方案由下面的权利要求而非此发明内容限定。此发明内容是该发明的各种实施方案的高级概览,并且介绍将在以下具体实施方式部分中进一步描述的一些概念。此发明内容既不意在识别所要求保护主题的关键或必要特征,也不意在单独用于确定所要求保护主题的范围。应当通过参考此专利的整个说明书的适当部分、所有附图以及每项权利要求来理解本主题。

根据本公开的某些实施方案,一种利用冷却系统冷却去涂层系统的方法包括测量该去涂层系统的一件设备内的温度。该方法还包括测量由冷却系统的喷射器分配到去涂层系统的该件设备中的冷却剂的冷却剂特性,并且接收测量的冷却剂特性。该方法还包括基于测量的温度和测量的冷却剂特性来调节冷却剂控制装置以调节冷却剂特性,使得冷却系统利用冷却剂冷却至期望温度。

根据本公开的各种实施方案,一种用于去涂层系统的冷却系统包括传感器,该传感器被配置为测量由喷射器分配到去涂层系统中的冷却剂的特性。该冷却系统还包括控制冷却剂的冷却剂特性的冷却剂控制装置。该冷却系统还包括与传感器和冷却剂控制装置通信地耦合的控制器。在一些方面,控制器被配置为基于去涂层系统内的测量的温度和测量的冷却剂特性来调节冷却剂控制装置以调节冷却剂的冷却剂特性,使得冷却系统利用冷却剂冷却至期望温度。

根据本公开的一些实施方案,一种利用冷却系统控制去涂层系统的温度的方法包括:测量该去涂层系统的一件设备内的温度,测量去涂层系统的该件设备中的冷却系统的特性,以及接收测量的特性。该方法包括基于测量的温度或测量的特性中的至少一者来控制冷却系统以调节特性,使得冷却系统提供期望温度或期望特性中的至少一者。

根据本公开的某些实施方案,一种用于去涂层系统的冷却系统包括传感器、控制装置和控制器。传感器被配置为测量去涂层系统中的冷却系统的特性。控制装置控制冷却系统的特性,并且控制器与传感器和控制装置通信地耦合。控制器被配置为基于去涂层系统内的测量温度或测量特性中的至少一者来调节控制装置以调节冷却系统的特性,使得冷却系统提供期望温度或期望特性中的至少一者。

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