[发明专利]自动分析装置

说明书

自动分析装置(100)具备：样品取样器(11a)，将分注对象分注到使分析对象的样品与试剂发生反应的多个反应容器(2)中；测定部(光源(4a)、分光光度计(4)以及控制装置(21))，对反应容器(2)的样品与试剂的反应液进行测定；清洗槽，进行取样器的清洗；以及控制装置(21)，对取样器、测定部、以及清洗槽(13)的动作进行控制，清洗槽(13)具有：清洗池(36)，存积用于浸渍并清洗取样器的清洗水；以及干燥槽(37)，吸引附着于取样器的表面的清洗水，控制装置(21)在将取样器浸渍于清洗池(36)的清洗水中进行清洗后，在干燥槽(37)中吸引取样器的表面的清洗水。由此，能够削减取样器的清洗中的清洗水的使用量。

技术领域

本发明涉及自动分析装置。

背景技术

在进行样品的定性/定量分析的自动分析装置中，将一定量的样品和一定量的试剂喷出到反应容器内使其混合以及反应，并以光学方式来测定该反应液的反应，由此来进行作为样品的检测物的成分、浓度等的分析。在这样的自动分析装置中，通过适当清洗在作为分析对象的样品的分注中使用的取样器(probe)，来抑制交叉污染的发生从而谋求维持分析精度。

作为这样的取样器的清洗涉及的技术，例如，在专利文献1中公开了如下自动分析装置：该自动分析装置具备将试剂、作为分析对象的检测物分注到反应容器的分注用喷嘴、和为了重复使用所述分注用喷嘴而进行清洗的清洗部件，该自动分析装置测定在反应容器内发生化学反应的反应液的吸光度来进行成分分析，在该自动分析装置中，在所述清洗后对残留在所述分注用喷嘴的外壁的清洗水进行真空吸引，以非接触方式进行除去、干燥。

在先技术文献

专利文献

专利文献1：JP特开2002-340913号公报

发明内容

发明想要解决的课题

但是，在自动分析装置的取样器的清洗中需要大量的水来作为清洗水，但在无法大量确保清洗水的情况下，例如，在不能大量确保清洗水的地域使用自动分析装置的情况下，被认为是无法持续实施分析。

本发明鉴于上述情况而完成，其目的在于，提供一种自动分析装置，能够削减取样器的清洗中的清洗水的使用量。

用于解决课题的手段

为了达成上述目的，本发明是一种自动分析装置，具备：取样器，将分注对象分注到使分析对象的样品与试剂发生反应的多个反应容器中；测定部，对所述反应容器的所述样品与所述试剂的反应液进行测定；清洗槽，进行所述取样器的清洗；以及控制装置，对所述取样器、所述测定部以及所述清洗槽的动作进行控制，在该自动分析装置中，所述清洗槽具有：清洗池，存积用于浸渍并清洗所述取样器的清洗水；以及干燥槽，吸引附着于所述取样器的表面的清洗水，所述控制装置在将所述取样器浸渍于所述清洗池的清洗水中进行清洗后，在所述干燥槽中吸引所述取样器的表面的清洗水。

发明效果

根据本发明，能够削减取样器的清洗中的清洗水的使用量。

附图说明

图1是概略表示第1实施方式涉及的自动分析装置的整体结构的图。

图2是表示清洗槽的结构的纵截面图。

图3是表示第1实施方式涉及的清洗处理的处理内容的流程图。

图4是表示第1实施方式涉及的样品取样器的位置的移动的情形的图。

图5是表示第2实施方式涉及的清洗处理的处理内容的流程图。

图6是表示第2实施方式涉及的样品取样器的位置的移动的情形的图。

图7是表示第3实施方式涉及的清洗处理的处理内容的流程图。