[发明专利]再现装置以及再现方法

权利要求书

1.一种再现装置，具有：

光学系统，通过对记录介质照射由光源发出的光而得到信号光，并且从由所述光源发出的光生成参照光，针对使所述信号光和所述参照光重叠而得到的重叠光，分别生成施加了大致0°的相位差的第1信号光和参照光的组以及施加了大致90°的相位差的第3信号光和参照光的组；

受光部，由第1受光元件对所述第1信号光和参照光的组进行受光，由第3受光元件对所述第3信号光和参照光的组进行受光；以及

相位校正部，被供给由所述第1受光元件得到的第1受光信号以及由所述第3受光元件得到的第3受光信号，校正所述信号光和参照光的光路长度差θ，

所述相位校正部由相位校正电路、从所述相位校正电路的输出信号检测相位校正残差的相位检测电路以及对所述相位校正残差进行滤波处理的滤波处理电路构成，具备将所述滤波处理电路的输出反馈给所述相位校正电路的路径。

2.一种再现装置，具有：

光学系统，通过对记录介质照射由光源发出的光而得到信号光，并且从由所述光源发出的光生成参照光，针对使所述信号光和所述参照光重叠而得到的重叠光，分别生成施加了大致0°的相位差的第1信号光和参照光的组、施加了大致180°的相位差的第2信号光和参照光的组、施加了大致90°的相位差的第3信号光和参照光的组以及施加了大致270°的相位差的第4信号光和参照光的组；

受光部，由第1受光元件对所述第1信号光和参照光的组进行受光，由第2受光元件对所述第2信号光和参照光的组进行受光，由第3受光元件对所述第3信号光和参照光的组进行受光，由第4受光元件对所述第4信号光和参照光的组进行受光；

运算部，求出第1差分信号a和第2差分信号b，所述第1差分信号a是由所述第1受光元件得到的第1受光信号与由所述第2受光元件得到的第2受光信号的差分，所述第2差分信号b是由所述第3受光元件得到的第3受光信号与由所述第4受光元件得到的第4受光信号的差分，所述第2差分信号b与所述第1差分信号a相位关系正交；以及

相位校正部，被供给所述第1差分信号a和所述第2差分信号b，校正所述信号光和参照光的光路长度差θ，

所述相位校正部由相位校正电路、从所述相位校正电路的输出信号检测相位校正残差的相位检测电路以及对所述相位校正残差进行滤波处理的滤波处理电路构成，具备将所述滤波处理电路的输出反馈给所述相位校正电路的路径。

3.根据权利要求1或2所述的再现装置，其中，

在将反馈的校正相位设为θa、将离散时刻设为n的情况下，所述相位校正电路通过接下来的运算，形成相位校正后的输出A(n)和B(n)，

A(n)＝a(n)cos(θa(n))-b(n)sin(θa(n))

B(n)＝a(n)sin(θa(n))+b(n)cos(θa(n))。

4.根据权利要求3所述的再现装置，其中，

在将反馈的校正相位设为θa、将离散时刻设为n的情况下，所述相位检测电路通过接下来的运算，形成相位校正残差θ(n)，

θ(n)＝0.5atan{(A(n)²-B(n)²),A(n)B(n)}。

5.根据权利要求3所述的再现装置，其中，

在将反馈的校正相位设为θa、将离散时刻设为n的情况下，所述相位检测电路通过接下来的运算，形成相位校正残差θ(n)，

θ(n)＝A(n)B(n)。

6.根据权利要求1或2所述的再现装置，其中，

所述参照光是通过利用反射镜使由所述光源发出的光反射而生成的。