[发明专利]再现装置以及再现方法

说明书

一种再现装置，具有：运算部，求出第1差分信号a和与第1差分信号a相位关系正交的第2差分信号b；以及相位校正部，被供给第1差分信号a及第2差分信号b，校正信号光和参照光的光路长度差θ，相位校正部由相位校正电路、从相位校正电路的输出信号检测相位校正残差的相位检测电路以及对相位校正残差进行滤波处理的滤波处理电路构成，具备将滤波处理电路的输出反馈给相位校正电路的路径。

技术领域

本技术涉及适用于对光盘等光介质进行再现的再现装置以及再现方法。

背景技术

在例如对多层光盘进行再现的情况下，信号光量降低，在信号的读取中产生误差的可能性变高。为了解决该问题，已知利用光的干涉来放大检测信号的零差(homodyne)检测法(参照专利文献1及专利文献2)。

在专利文献1中，作为对使信号光和参照光干涉而得到的光进行检波的零差方式，对于分别使其相位差每次错开90度而得到的4个信号光/参照光的组进行检波。具体而言，对于相位差分别成为0度、90度、180度、270度的信号光/参照光的组，分别进行检波。通过分别检测关于使信号光和参照光干涉而得到的光的光强度来进行这些各检波。此外，施加对由于光盘的表面振动而引起的光路长度的变化进行校正的伺服。在专利文献2中，记载了通过运算来求出信号光和参照光的光路长度差。

在零差方式中，能够得到根据参照光的光强度而放大的信号光的分量作为再现信号。通过这样放大信号光，能够改善再现信号的SNR。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2010-044832号公报

专利文献2：日本特开2013-054801号公报

发明内容

发明要解决的课题

在零差方式中存在信号光和参照光的光路长度差(相位偏移)θ时，得不到期望的效果。在θ中存在由于光盘的表面振动而引起的相对低频率的相位波动和更高的频率的相位波动。高频的相位波动例如起因于盘表面的微小的凹凸(表面的粗糙)而发生。在专利文献1中记载的伺服控制的情况下，相位波动比伺服频带高，不能完全消除高频的相位波动。

高频的相位波动无法以通过反射镜的变位使光路的长度变化的方式消除，所以通过信号处理来消除相位波动。在为此校正相位的情况下，为了消除检测到的相位差信号的噪声，应用相位展开处理以及滤波处理。然而，存在由于噪声的影响而无法正确地进行相位的展开并且将大的误差添加到滤波处理结果中的情况。

因此，本技术的目的在于提供一种采用零差检测方式并且能够防止相位的展开受到噪声的影响而无法正确地进行的再现装置以及再现方法。

课题的解决方法

本技术提供一种再现装置，具有：

光学系统，通过对记录介质照射由光源发出的光而得到信号光，并且从由光源发出的光生成参照光，针对使信号光和参照光重叠而得到的重叠光，分别生成施加了大致0°的相位差的第1信号光和参照光的组以及施加了大致90°的相位差的第3信号光和参照光的组；

受光部，由第1受光元件对第1信号光和参照光的组进行受光，由第3受光元件对第3信号光和参照光的组进行受光；以及

相位校正部，被供给由第1受光元件得到的第1受光信号以及由第3受光元件得到的第3受光信号，校正信号光和参照光的光路长度差θ，

相位校正部由相位校正电路、从相位校正电路的输出信号检测相位校正残差的相位检测电路以及对相位校正残差进行滤波处理的滤波处理电路构成，具备将滤波处理电路的输出反馈给相位校正电路的路径。

本技术提供一种再现装置，具有：