[发明专利]具有斜交检测电极组的接近检测装置

权利要求书

1.一种接近检测装置，其特征在于，具备：

第1检测电极组，其具有多根检测电极；

第2检测电极组，其具有与所述第1检测电极组正交的多根检测电极；

斜交检测电极组，其具有分别与所述第1检测电极组以及第2检测电极组斜交的多根检测电极；

检测单元，其针对所述第1检测电极组、所述第2检测电极组以及所述斜交检测电极组的每一个，能够检测与检测对象物的接近状态对应的静电电容；以及

控制单元，其切换并执行第1检测模式和第2检测模式，该第1检测模式基于所述第1检测电极组以及所述第2检测电极组各自的所述静电电容，判定一个所述检测对象物的接近状态，该第2检测模式基于所述第1检测电极组、所述第2检测电极组以及所述斜交检测电极组各自的所述静电电容，判定多个所述检测对象物各自的接近状态。

2.根据权利要求1所述的接近检测装置，其特征在于，

所述控制单元，

在所述第1检测模式中，直到由所述第1检测电极组以及所述第2检测电极组的至少任意一方检测出多个所述检测对象物为止，维持该第1检测模式，

在所述第1检测模式中，当由所述第1检测电极组以及所述第2检测电极组的至少任意一方检测出多个检测对象物，切换为所述第2检测模式。

3.根据权利要求2所述的接近检测装置，其特征在于，

所述控制单元，

在所述第2检测模式中，

基于在所述第1检测模式中检测出的所述第1检测电极组以及所述第2检测电极组各自的所述静电电容和在该第2检测模式中检测出的所述斜交检测电极组的所述静电电容，判定多个所述检测对象物各自的接近状态。

4.根据权利要求2或3所述的接近检测装置，其特征在于，

所述接近检测装置还具有：第3检测模式，其基于所述第1检测电极组或所述第2检测电极组中的任意一方的所述静电电容，判定所述检测对象物的接近的有无，

控制单元，

在所述第3检测模式中，直到判定为有所述检测对象物的接近为止，维持该第3检测模式，

在所述第3检测模式中，当判定为有所述检测对象物的接近时，切换为所述第1检测模式。

5.根据权利要求4所述的接近检测装置，其特征在于，

所述控制单元，

在所述第1检测模式中，

基于在所述第3检测模式中检测出的所述第1检测电极组或所述第2检测电极组中的任意一方的所述静电电容和在该第1检测模式中检测出的所述第1检测电极组或所述第2检测电极组中的任意另一方的所述静电电容，判定一个所述检测对象物的接近状态。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的接近检测装置，其特征在于，

所述检测单元，

针对所述第1检测电极组、所述第2检测电极组以及所述斜交检测电极组的每一个，通过自电容方式检测所述静电电容。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的接近检测装置，其特征在于，

所述检测对象物为手或手指。

8.根据权利要求7所述的接近检测装置，其特征在于，

所述第1检测模式是将所述手或所述手指作为一个所述检测对象物，判定向所述第1检测电极组以及所述第2检测电极组的接近状态的单点检测模式。

9.根据权利要求8所述的接近检测装置，其特征在于，

所述第2检测模式是将多根手指作为多个所述检测对象物的多点检测模式。